A mikroszkóp öt gyakori megfigyelési módszere
1. Fényes mező módszer
Módszer a mintáról közvetlenül visszaverődő fény megfigyelésére. A megvilágítóból származó fény egy függőlegesen elhelyezett objektíven keresztül esik a mintára, és a mintáról közvetlenül visszavert fény az objektíven keresztül figyelhető meg.
2. Sötét mező módszer
Vegye figyelembe a szórt fényt alkalmazó mintaszárítási módszereket. A megvilágító fény ferdén esik a mintára az objektívlencse kerületén keresztül, és a mintából származó száraz fényt figyeljük, miközben a szórt fényt figyeljük.
Ideális a mintákon lévő apró karcolások vagy repedések kimutatására, valamint a minták, például ostyák tükörszerű felületeinek vizsgálatára.
3. Polarizált fény módszer
Ez egy mikroszkópos megfigyelési technika, amely polarizált fényt használ, amelyet két színszűrő (észlelési polarizátor és polarizátor) alkot. Ezek a polarizációs tengelyek mindig merőlegesek egymásra. Egyes minták éles kontrasztot mutatnak a két szűrő között. Vagy fejezze ki a színt a kettős törési tulajdonságok és az orientáció alapján (azaz cink szerkezetek polírozott mintái). Amikor az analizátort a szemlencse előtti megfigyelési fénypályába helyezik, a polarizátor a függőleges megvilágító előtti fénypályában van.
Alkalmas metallográfiai szerkezet (pl. gömbgrafitos öntöttvas grafit növekedési módja), ásványok és folyadékkristály (LCD) és félvezető anyagok megfigyelésére.
4. Differenciális interferencia kontraszt módszer
Ez egy mikroszkópos megfigyelési technika, amely a kontrasztmagasságot sztereoszkópikus vagy háromdimenziós képpé változtatja a fényes mező módszerével, amelyet a fényes mező módszere esetleg nem észlel. A megvilágítás fénye a differenciális interferencia kontrasztprizmáról két szórt fényre változik. A két szórt fény által okozott mintamagasság-különbség kis különbséget hoz létre a fény útjában, és a fényút különbsége a kontrasztprizma és a differenciális interferometriát alkalmazó analizátor kontrasztjává válik.
Az érzékeny mintákat újra felhasználják a rendkívül változó kromatikus aberrációk fokozására.
Rendkívül nagy pontosságú magasságkülönbséggel rendelkező minták vizsgálatára alkalmas, beleértve a metallográfiai szerkezeteket, ásványokat, mágneses fejeket, merevlemez-felületeket és ostyafinomított felületeket.
5. Fluoreszcencia módszer
Ezt a technikát fluoreszkáló mintákhoz használják.
Alkalmas ostya szennyeződések, maradék fényérzékeny gyanta kimutatására, repedések kimutatására fluoreszcens módszerrel.
