Milyen anyagokat használnak elsősorban pásztázó elektronmikroszkóppal történő megfigyelésre?
A pásztázó elektronmikroszkópot (SEM) 1965-ben találták fel, és főként sejtbiológiai kutatásokra használják. Elsősorban másodlagos elektronjel-leképezéssel figyeli a minta felületi morfológiáját, vagyis rendkívül keskeny elektronnyalábot használ a minta pásztázására. A mintával való kölcsönhatás különféle hatásokat vált ki, amelyek közül a legfontosabbak a minta másodlagos elektronjai.
A szekunder elektronok a minta felületéről felnagyított topográfiai képet készíthetnek. Ez a kép időbeli sorrendben jön létre a minta szkennelésekor, vagyis a kinagyított képet pontról pontra történő leképezéssel kapjuk meg.
A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) egy mikroszkopikus morfológiai megfigyelési módszer a transzmissziós elektronmikroszkópia és az optikai mikroszkópia között. Közvetlenül felhasználhatja a mintafelületi anyagok anyagtulajdonságait a mikroszkópos képalkotáshoz. A pásztázó elektronmikroszkóp előnyei: ① Nagy nagyítású, amely 20 és 200,{2}}-szeres között folyamatosan állítható; ② Nagy mélységélességgel, nagy látómezővel és háromdimenziós képpel rendelkezik, és közvetlenül megfigyelheti a különböző minták egyenetlen felületeit. Finom szerkezet; ③ A minta előkészítése egyszerű. A jelenlegi pásztázó elektronmikroszkópok röntgenenergia-spektrométerrel vannak felszerelve, amelyek egyszerre képesek megfigyelni a mikroszerkezet morfológiáját és a kistérségi komponenselemzést (azaz SEM-EDS), így napjaink egyik legfontosabb tudományos kutatási eszköze.
⑴ Biológia: magvak, pollen, baktériumok...
⑵Gyógyászat: vérsejtek, vírusok...
⑶Állatok: vastagbél, bolyhok, sejtek, rostok...
⑷Anyagok [1]: Kerámiák, polimerek, porok, fémek, fémzárványok, epoxigyanta...
⑸Kémia, fizika, geológia, kohászat, ásványok, iszap (bacilusok), gépek, motorok és vezetőképes minták, például félvezető (IC, vonalszélesség mérés, keresztmetszet, szerkezet megfigyelés...) elektronikai anyagok stb.
