Mi a különbség a fénymikroszkóp és az elektronmikroszkóp között?
1, Különböző képalkotási elvek
Az optikai mikroszkóp alapelve, hogy a vizsgálandó minta különböző struktúráit felhasználva elnyeli a különböző fényjellemzőket, fényességkülönbség formájában mutatja be a minta tárgyképét. Az elektronmikroszkópban finomfókuszáló elektronnyaláb használata a minta felületében pontszkenneléssel, és a minta kölcsönhatása különféle fizikai jelek előállításával, ezeket a jeleket a detektor veszi, erősíti és modulált jelekké alakítja át, és végül a fluoreszkáló képernyőn, amely tükrözi a minta felületi képének különféle jellemzőit.
2, különböző fényforrások
Az optikai mikroszkóp megvilágítási forrása a látható fény (nappali fény vagy fény), míg az elektronmikroszkópban használt megvilágítási forrás az elektronágyúból származó elektronáramlás, az elektronáramlás hullámhossza miatt jóval rövidebb, mint a fény hullámhossza. hullámok, így az elektronmikroszkóp nagyítása és a fénymikroszkópnál lényegesen nagyobb felbontású.
HITACHI transzmissziós elektronmikroszkóp HT7800-Hitachi Atomic Force Mikroszkóp_Elektronmikroszkóp_Differenciális pásztázó kaloriméter_Termogravimetrikus elemző_Spektrofotométer
3, Különböző lencsék
Az elektronmikroszkóp a nagyításban játszik szerepet az objektív lencséje elektromágneses lencse (mágneses teret képes létrehozni a toroid elektromágneses tekercs középső részében), míg az optikai mikroszkóp objektívlencséje az optikai lencséből mart üveg. Az elektronmikroszkópban három elektromágneses lencsekészlet található, amelyek az optikai mikroszkópban a fókuszáló lencse, az objektívlencse és a szemlencse funkcióihoz hasonlíthatók.
4, mélységélesség
Az optikai mikroszkóp általános mélységélessége 2-3um között van, így a minta felületi simasága nagyon magas követelményeket támaszt, így a mintakészítési folyamat viszonylag bonyolult. A pásztázó elektronmikroszkópos mélységélesség akár néhány milliméter is lehet, így nincs követelmény a minta felületének simaságának geometriájára, a minta előkészítése viszonylag egyszerű, és egyes minták nem igényelnek mintaelőkészítést. Bár a testmikroszkóp is viszonylag nagy mélységélességgel rendelkezik, de a felbontása nagyon alacsony.
5, a különböző előkészítési módokon felhasznált minták
A bonyolultabb eljárások elkészítéséhez használt szövetsejt minták elektronmikroszkópos megfigyelése magasabbak a technikai nehézségek és költségek, a mintavétel, rögzítés, víztelenítés és beágyazódás és egyéb szempontok miatt speciális reagensek és műveletek szükségesek, de beágyazásra is szükség van egy jó szövettömbben ultravékony szeletelőbe tesszük, ultravékony szeletekre vágjuk 50 ~ 100 nm vastagságú mintát. A fénymikroszkópos megfigyeléshez használt mintákat általában tárgylemezekre helyezik, például közönséges szövetmetszet-mintákra, sejtkenet-mintákra, szövetkompressziós mintákra és sejtcsepp-mintákra.
6, felbontás
Az optikai mikroszkóp a fény interferencia és diffrakciója miatt a felbontás csak 2-5 um közé korlátozható. Az elektronmikroszkóp felbontása elérheti a 1-3nm-t, mivel az elektronsugarat alkalmazza fényforrásként. Ezért a fénymikroszkópos szövetmegfigyelés a mikronszintű, míg az elektronmikroszkópos a nanométer szintű elemzéshez tartozik.
7, Alkalmazási mező
Az optikai mikroszkóp elsősorban mikron szintű szövetmegfigyelésre és sima felületek mérésére szolgál, mivel a látható fény fényforrásként való felhasználása, így nem csak a mintaszövet felszíni rétege és a felületi réteg alatti szövetek bizonyos köre figyelhető meg. is megfigyelhető, és az optikai mikroszkóp a színek azonosítására nagyon érzékeny és pontos. Az elektronmikroszkópot elsősorban a minta felületi morfológiájának nanométeres léptékű megfigyelésére használják, mivel a pásztázó elektronmikroszkóp a fizikai jel intenzitására támaszkodik a szöveti információ megkülönböztetéséhez, így a pásztázó elektronmikroszkóp képe fekete-fehér, a felismeréshez. A színes képek pásztázó elektronmikroszkópja úgy tűnik, nem tud segíteni.
