Milyen alkalmazásai vannak a polarizáló mikroszkópiának a metallográfiai elemzésben?
A polarizációs mikroszkóp alapvető eszköz a kettős törést okozó anyagok tanulmányozására és azonosítására a fény polarizációs jellemzői alapján. A felhasználók egyszeres polarizációs megfigyelésre, ortogonális polarizáció megfigyelésére és kúpos fény megfigyelésére használhatják. Széles körben használják kutatásban és ellenőrzésben olyan területeken, mint a geológia, vegyészmérnöki, orvostudomány stb., Megfigyelheti a folyékony polimer anyagok, biopolimerek és folyadékkristályos anyagok kristályfázisait is. Ideális eszköz a kutatóintézetek és felsőoktatási intézmények számára a kutatás és az oktatás lefolytatására.
Működési elv:
A polarizáló mikroszkóp két polarizációs szűrője 90 fokban van elhelyezve, hogy megkapjuk az úgynevezett "sötét foltot". Ezen a ponton a látómező teljesen fekete. Ha a minta izotrópiát mutat az optikában (egy refraktor), függetlenül attól, hogyan forgatjuk el a tárgyasztalt, a látómező sötét marad. A polarizáló tükör által alkotott lineárisan polarizált fény rezgési iránya ugyanis nem változik. Marius törvénye szerint az áteresztett fény intenzitása 0. Ha a minta kettős törési jellemzőkkel rendelkezik, a látómező világosabb lesz. A polarizáló tükörből kibocsátott lineárisan polarizált fény ugyanis bejut a kettőstörő testbe, és kétféle, különböző rezgési irányú lineárisan polarizált fényt (o fényt és e fényt) állít elő. Ha ez a kétféle fény áthalad a polarizáló tükörön, mivel e fény nem felel meg a töréstörvénynek és a polarizációs iránya nem 90 fokos a polarizációs tükörrel, a polarizációs tükörön keresztül világos kép látható a látómezőben. .
A polarizáló mikroszkóp alkalmazása metallográfiai elemzésben:
1, Polarizált fény visszaverődése anizotróp fémcsiszoló felületeken.
Anizotróp kristályok megfigyelése ortogonálisan polarizált fényben. Az optikailag anizotróp fémek metallográfiai csiszolófelületében az egyes szemcsék eltérő orientációja, azaz az egyes szemcsék "optikai tengelyének" eltérő helyzete miatt az egyes szemcsékben a visszavert polarizált fény polarizációs síkjai eltérő szögben forognak el. Polarizációs mikroszkóp használatával a szemlencse különböző fényerejű kontrasztja figyelhető meg a szemlencsében. A tárgyasztal elforgatása egyenértékű a polarizációs irány és az optikai tengely közötti szög megváltoztatásával. Forgassa el a tárgyasztalt 360 fokkal, és figyeljen meg négy fényes és négy sötét változást a látómezőben. Ez az anizotróp kristályok polarizációs hatása ortogonális polarizált fényben.
2, Polarizált fény visszaverődése izotróp fémcsiszoló felületeken
Ha izotróp fémeket figyelünk meg ortogonálisan polarizált fényben, minden irányban konzisztens optikai tulajdonságaik miatt a visszavert fény polarizációs síkja nem forgatható el. A lineáris polarizált fény függőlegesen esik az izotróp fémcsiszoló felületre, és mivel a visszavert fény még mindig lineárisan polarizált, az ortogonális polarizáló tükör blokkolja. Ezért a visszavert polarizált fény nem tud áthaladni a polarizáló tükörön, és a látómező sötét, ami kihalási jelenséget mutat. A forgó rakodófelület fényereje sem változik. Ez az izotróp fémek ortogonális polarizációjának jelensége. Ha izotróp fémeket ortogonális polarizációval vizsgálunk, akkor az eredeti kristály optikai tulajdonságainak megváltoztatására speciális módszerre van szükség. Az általánosan használt módszerek közé tartozik a mélymarás vagy a felületi eloxálás. Például egyesek mélymaratást alkalmaznak a tű megfigyelésére, mint a martenzit és az eredeti ausztenitszemcsék a magas széntartalmú nikkel-krómacélban. Vannak, akik ezt a módszert használják martenzit, bainit, alacsony szén-dioxid-kibocsátású martenzit és más mezők megfigyelésére.
3, Nemfémes zárványok polarizációs elemzése
A nem fémes zárványok helyes azonosítása gyakran több kimutatási módszer alkalmazását igényli a pontos ítéletek meghozatalához. Közülük a metallográfiai módszer viszonylag egyszerű és elterjedt megközelítés, amely fontos helyet foglal el. Általában az optikai tulajdonságokat polarizáló mikroszkóp alatt elemzik világos, sötét és polarizált fénymezők segítségével.
