Álló mikroszkóp vagy fordított mikroszkóp?
A kérdés megválaszolása előtt tisztázni kell az álló mikroszkópok és a fordított mikroszkópok közötti különbségeket.
A metallográfiai mikroszkópokat, más néven anyagmikroszkópokat elsősorban a fémek mikroszerkezetének megfigyelésére használják. Feloszthatók álló metallográfiai mikroszkópokra és fordított metallográfiai mikroszkópokra.
A függőleges metallográfiai mikroszkóp a megfigyelés során képet alkot, ami nagy kényelmet biztosít a felhasználók számára a megtekintéshez és a megkülönböztetéshez. A 20-30 mm-nél nagyobb magasságú példányok kivételével megfelel az emberek szokásos megfigyelési szokásainak. Ezért széles körben használják átlátszó, áttetsző vagy átlátszatlan anyagok megfigyelésére, 3 mikron és 20 mikron közötti megfigyelési célokkal, például fémek, kerámiák, elektronikus chipek, nyomtatott áramkörök, LCD-hordozók, vékony filmek, szálak, részecskeminták, bevonatok és anyagfelületi szerkezetek. A nyomok jól megőrizhetők és tárolhatók. Ezenkívül a támogató képalkotó rendszer csatlakozhat egy számítógéphez statikus és dinamikus képek rögzítéséhez. Különféle szoftverekkel felszerelhető a metallográfia, mérés, oktatás és tudományos kutatás professzionálisabb igényeinek kielégítésére. Az invertált metallográfiai mikroszkóp optikai képalkotási módszereket használ a különféle fémek és ötvözetek szerkezetének azonosítására és elemzésére. A fizikai kohászati kutatások fontos eszköze. Széles körben használják gyárakban és laboratóriumokban öntvényvizsgálatra, nyersanyag-ellenőrzésre és fémanyagok hőkezelés utáni szerkezeti elemzésére, hogy intuitív elemzési eredményeket kapjanak. Ez a minőségi azonosítás kulcsfontosságú berendezése az öntési, olvasztási és hőkezelési folyamatokban a bányászatban, a kohászatban, a feldolgozóiparban és a gépiparban. Az elmúlt években az elektronikai iparnak nagy nagyítású lapos mintákra van szüksége a chipgyártás támogatásához. Emiatt az invertált metallográfiai mikroszkópokat bevezették ezen a területen, és folyamatosan fejlesztik, hogy megfeleljenek az ipar speciális ellenőrzési követelményeinek. Az invertált típustól eltérően a függőleges metallográfiai mikroszkópon a minta megfigyelési felülete lefelé néz, és a próbatestre kerül, míg az objektív lencse a tárgyasztal alatt található felfelé irányuló megfigyelés céljából. Ezt a formát nem korlátozza a minta magassága, kényelmes kezelést, kompakt szerkezetet és vonzó megjelenést kínál. A fordított metallográfiai mikroszkóp alapja nagy támasztófelülettel és alacsony súlyponttal rendelkezik a stabil működés érdekében. A szemlencse cső 45 fokban meg van dőlve a tartófelülethez képest a kényelmes megtekintés érdekében.
