A transzmissziós elektronmikroszkópok felhasználása és jellemzői
A transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM) egy nagy{0}}felbontású mikroszkóp, amelyet a minta belső szerkezetének megfigyelésére használnak. Elektronsugarat használ, hogy behatoljon a mintába, és vetített képet hozzon létre, amelyet azután értelmez és elemzi, hogy feltárja a minta mikroszerkezetét.
1. Elektronikus forrás
A TEM fénysugarak helyett elektronsugarat használ. A Jifeng Electronics MA Laboratoryban felszerelt Talos sorozatú transzmissziós elektronmikroszkóp ultra-nagy fényerejű elektronágyúkat, míg a HF5000 szférikus aberráció transzmissziós elektronmikroszkóp hidegmezős elektronágyúkat használ.
2. Vákuumos rendszer
Az elektronsugár és a gáz közötti kölcsönhatás elkerülése érdekében, mielőtt áthaladna a mintán, a teljes mikroszkópot nagy vákuum körülmények között kell tartani.
3. Átviteli minta
A mintának átlátszónak kell lennie, ami azt jelenti, hogy az elektronsugár áthatolhat rajta, kölcsönhatásba léphet vele, és vetített képet alkothat. Általában a minta vastagsága nanométertől szubmikronig terjed. A Jifeng Electronics több tucat Helios 5-ös sorozatú FIB-vel van felszerelve a kiváló-minőségű ultra-vékony TEM minták elkészítéséhez.
4. Elektronikus átviteli rendszer
Az elektronsugarat egy átviteli rendszeren keresztül fókuszálják. Ezek a lencsék hasonlóak az optikai mikroszkópokéhoz, de az elektronok sokkal rövidebb hullámhossza miatt, mint a fényhullámok, a lencsék tervezési és gyártási követelményei magasabbak.
5. Mint egy repülőgép
A mintán való áthaladás után az elektronsugár egy képsíkra kerül. Ezen a síkon az elektronsugár információi képpé alakulnak, és a detektor rögzíti.
6. Detektor
A leggyakoribb detektorok a fluoreszkáló képernyők, a CCD (Charge Coupled Device) kamerák vagy a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) kamerák. Amikor az elektronsugár kölcsönhatásba lép a fluoreszcens képernyővel a képsíkon, látható fény keletkezik, amely a mintáról vetített képet alkot, amelyet általában minták keresésére használnak. Tekintettel arra, hogy a fluoreszkáló képernyőket sötét helyiségben kell használni, és nem felhasználóbarátok, a gyártók most kamerát helyeznek el a fluoreszkáló képernyő oldala fölé, lehetővé téve a TEM-kezelők számára, hogy világos környezetben figyeljék a kijelzőt, hogy mintákat keressenek, megdöntsék a szíj tengelyét és egyéb műveleteket hajtsanak végre. Ez a feltűnő fejlesztés az alapja az emberi-gépek szétválasztásának.
7. Alkoss egy képet
Amikor az elektronsugár áthalad a mintán, kölcsönhatásba lép a mintán belüli atomokkal és kristályszerkezettel, szórja és elnyeli. Ezen kölcsönhatások alapján az elektronsugár intenzitása képet alkot a képsíkon. Ezek a képek mind kétdimenziós vetítési képek, de a minta belső szerkezete gyakran háromdimenziós, ezért a mintán belüli részletes információk elemzésekor erre különös figyelmet kell fordítani.
8. Elemzés és magyarázat
A képek megfigyelésével és elemzésével a kutatók megérthetik a minta mikroszerkezeti információit, például kristályszerkezetet, rácsparamétereket, kristályhibákat, atomi elrendezést stb.. A Jifeng professzionális anyagelemző csapattal rendelkezik, amely teljes folyamatelemzési megoldásokat és professzionális anyagelemzési jelentéseket tud nyújtani az ügyfeleknek.
