STED és immerziós mikroszkópok mélyfókusszal
A nagy NA objektívek mély fókusza kisebb PSF-et (point spread function) eredményez, ami kritikus fontosságú a nagy felbontású mikroszkópos rendszerekben. Sok más mikroszkóprendszerben, például az immerziós mikroszkópban, fedőlemezt használnak az immerziós folyadék és a minta elválasztására. Ez torzíthatja a PSF-et a fókuszsíkban. Bemutatjuk, hogy az aszimmetrikus PSF tovább nyúlik a fedőlemez mögött. Ezenkívül a STED (Stimulated Emission Depletion) mikroszkóp, amelyet széles körben használnak több tíz nanométeres felbontással, toroid PSF-et fogyaszt. P.Török és PRT Monro által javasolt megközelítést követve egy Gauss-Raggler nyaláb mélyfókuszálását modellezzük. Bemutatja, hogyan kell kör alakú PSF-et előállítani.
Mélyfókuszálás a nagy NA immerziós mikroszkóppal
A VirtualLab Fusion alkalmazásban a fedőlemez interfész PSF-re gyakorolt hatása közvetlenül elemezhető. A fedőlemez mögötti fókusztorzulást teljes mértékben vektoros módon mutatjuk be és elemezzük.
Gauss-Laguerre-nyalábok fókuszálása STED mikroszkópban
Kimutatták, hogy a magasrendű Gauss-Laguerre-nyalábok fókuszálása gyűrű alakú PSF-et eredményez. A gyűrű alakú PSF mérete többek között a gerenda adott sorrendjétől függ.
