Vásároljak egy függőleges vagy fordított mikroszkópot?
A metallográfiás mikroszkópot, más néven anyagmikroszkópot, elsősorban a fémszerkezet szerkezetének megfigyelésére használják. Fel lehet osztani függőleges metallográfiai mikroszkópra és fordított metallográfiai mikroszkópra
A függőleges metallográfiai mikroszkóp pozitív képet hoz létre a megfigyelés során, ami nagy kényelmet nyújt a felhasználó megfigyeléséhez és azonosításához. A 20-30 mm magasságú fémminták elemzése és azonosítása mellett szélesebb körben használják átlátszó, félig átlátszó vagy átlátszatlan anyagokhoz, mivel megfelel az emberi napi szokásoknak. A 3 mikronnál nagyobb, de 20 mikronnál kisebb, mint például a fémkerámia, az elektronikus chips, a nyomtatott áramkörök, az LCD szubsztrátok, a filmek, a rostok, a szemcsés tárgyak, a bevonatok és más anyagok megfigyelése jó képalkotó hatásokat érhet el felületi szerkezetükre és nyomaira. Ezenkívül a külső kamerarendszer könnyen csatlakoztatható a videó képernyőhöz és a számítógéphez valós idejű és dinamikus képmegfigyelés, mentés és szerkesztés, nyomtatás és különféle szoftverekkel kombinálva, hogy megfeleljen a professzionálisabb metallográfiai, mérési és interaktív tanítási területek igényeinek. A fordított metallográfiai mikroszkóp optikai sík képalkotást használ a különféle fémek és ötvözetek mikroszerkezetének azonosítására és elemzésére. Fontos eszköz a fémfizika metallográfiájának tanulmányozásához, és széles körben felhasználható gyárakban vagy laboratóriumokban a minőségi, nyersanyag -ellenőrzés, vagy az anyag metallográfiai szerkezetének kutatása és elemzése céljából a folyamatkezelés után. Intuitív elemzési eredményeket nyújt, és kulcsfontosságú berendezés az öntés, olvasztás és hőkezelés minőségi azonosításához és elemzéséhez a bányászatban, a kohászatban, a gyártásban és a mechanikus feldolgozó iparban.
Az utóbbi években, mivel szükség van a nagyméretű síkmikroszkópos technológiára, hogy támogassa a chiptermelést a mikroelektronikai iparban, bevezették és folyamatosan javultak az ipar speciális igényeinek kielégítése érdekében. A fordított metallográfiai mikroszkóp, mivel a minta megfigyelési felülete egybeesik a munkaasztal felületével, a megfigyelési cél a munkaasztal alatt helyezkedik el, és felfelé figyelve. Ezt a megfigyelési formát nem korlátozza a minta magassága, könnyen használható, kompakt a műszerszerkezetben, gyönyörű és nagylelkű megjelenés. A fordított metallográfiai mikroszkóp alapnak nagy tartó- és alacsony súlypontja van, amely stabil és megbízható. A szemlencsét és a tartófelületet 45 fokos dőléssel bírják, így a megfigyelés kényelmes.
