A mikroszkóp számos fontos optikai műszaki paramétere

Jun 17, 2023

Hagyjon üzenetet

A mikroszkóp számos fontos optikai műszaki paramétere

 

A mikroszkóp a következő fontos optikai műszaki paraméterekkel rendelkezik: numerikus apertúra, felbontás, nagyítás, fókuszmélység, látómező átmérője, munkatávolság stb. Ezek a paraméterek nem mindig a lehető legmagasabbak, és összefüggenek és korlátozzák egymást. A legjobb eredmény elérése érdekében a megfelelő paramétereket az ellenőrzés tényleges szükségleteinek megfelelően kell kiválasztani.


1. Numerikus rekesz (NA)


A numerikus rekeszérték kulcsfontosságú elem az objektívek teljesítményének (felbontás, fókuszmélység és fényerő) megítélésében.


A numerikus apertúrát (NA) a következő képlettel számítottuk ki.


NA=n×sinx


n=a minta és az objektívlencse közötti közeg törésmutatója (levegő: n=1, olaj: n=1.515)


X: Az optikai tengely és az objektív középpontjától legtávolabbi megtört fény által alkotott szög.


Mikroszkópos megfigyelés esetén, ha növelni akarjuk az NA értéket, a rekeszszög nem növelhető. A legjobb módszer a közeg n törésmutatójának növelése. Ezen az alapelv alapján készülnek vízbemerítésű objektívlencsék és olajimmerziós objektívlencsék. Mivel a közeg n törésmutatója nagyobb egynél, az NA értéke nagyobb is lehet egynél.


A maximális numerikus rekesznyílás 1,4, ami elméletileg és műszakilag is elérte a határt. Jelenleg nagy törésmutatójú brómonaftalint használnak közegként. A brómonaftalin törésmutatója 1,66, így az NA értéke nagyobb is lehet, mint 1,4.


Itt ki kell emelni, hogy az objektívlencse numerikus apertúrájának szerepének teljes körű eljátszásához a kondenzátorlencse NA-értékének meg kell egyeznie a tárgylencse NA-értékével, vagy valamivel nagyobbnak kell lennie a megfigyelés során.


A numerikus apertúra szorosan összefügg más műszaki paraméterekkel, és szinte meghatároz és befolyásol más műszaki paramétereket. Ez arányos a felbontással, arányos a nagyítással, és fordítottan arányos a fókusz mélységével. Az NA érték növekedésével a látómező szélessége és a munkatávolság ennek megfelelően csökken.


2. Felbontás


A felbontást „megkülönböztetési aránynak” és „felbontásnak” is nevezik. Egy másik fontos műszaki paraméter a mikroszkóp teljesítményének mérésére.


A mikroszkóp felbontását a következő képlet fejezi ki: d=l/NA


ahol d a minimális felbontási távolság; l a fény hullámhossza; Az NA az objektív numerikus rekeszértéke. A látható objektívlencse felbontását két tényező határozza meg: az objektív lencse NA értéke és a megvilágító forrás hullámhossza. Minél nagyobb az NA érték, annál rövidebb a megvilágítás hullámhossza, és minél kisebb a d érték, annál nagyobb a felbontás.


A felbontás növelésére, azaz a d érték csökkentésére a következő intézkedéseket lehet tenni


1. Csökkentse az l hullámhossz értékét, és használjon rövid hullámhosszú fényforrást.


2. Növelje a közeg n értékét és növelje az NA értéket (NA=nsinu/2).


3. Növelje a rekesznyílás szögét.


4. Növelje a kontrasztot a világos és a sötét között.


3. Nagyítás
A nagyítás az a nagyítás, amely az emberi szem által látott végső kép méretének az eredeti tárgy méretéhez viszonyított arányára vonatkozik, miután a vizsgált tárgyat az objektív nagyítása, majd a szemlencse nagyítja. az objektívlencse és a szemlencse nagyításának szorzata.


A nagyítás is fontos paramétere a mikroszkópnak, de nem szabad vakon azt hinnünk, hogy minél nagyobb a nagyítás, annál jobb. Az objektív lencséjének numerikus rekeszértékét kell először figyelembe venni a választásnál.


4. A fókusz mélysége
A fókuszmélység a fókuszmélység rövidítése, vagyis mikroszkóp használatakor, amikor a fókusz egy bizonyos tárgyon van, nem csak a pont síkjának minden pontja látható tisztán, hanem egy bizonyos vastagságon belül is. és a sík alatt, Hogy világos legyen, ennek a tiszta résznek a vastagsága a fókusz mélysége. fókusz mélysége,


A vizsgált objektum teljes rétege látható, de kis mélységű fókuszálással a vizsgált objektumnak csak egy vékony rétege látható. A fókusz mélysége a következő összefüggésben van más műszaki paraméterekkel:


1. A fókuszmélység fordítottan arányos a teljes nagyítással és az objektív numerikus rekeszértékével.


2. A fókusz mélysége nagy, és a felbontás csökken.


Az alacsony nagyítású objektív nagy mélységélessége miatt az alacsony nagyítású objektívvel nehéz képeket készíteni. Ezt részletesebben a mikrofényképek írják le. 5. A látómező átmérője


Mikroszkóp megfigyelésekor a látott világos eredeti területet látómezőnek nevezzük, méretét pedig a szemlencsében lévő membrán határozza meg.


A látómező átmérőjét a látómező szélességének is nevezik, ami a vizsgált tárgy tényleges hatótávolságára vonatkozik, amely a mikroszkóp alatt látható körkörös látómezőben elhelyezhető. Minél nagyobb a látómező átmérője, annál könnyebben megfigyelhető.

A képletből látható:

1. A látómező átmérője arányos a látómezők számával.


2. Az objektívlencse többszörösének növelése csökkenti a látómező átmérőjét. Ezért, ha a kis teljesítményű objektív alatt a vizsgált tárgy teljes képe látható, és nagy teljesítményű objektívre vált, akkor a vizsgált objektumnak csak egy kis részét láthatja.


6. Munkatávolság
A munkatávolságot tárgytávolságnak is nevezik, ami a tárgylencse elülső lencséjének felülete és a vizsgálandó tárgy közötti távolságra utal. A mikroszkópos vizsgálat során a vizsgálandó tárgynak a tárgylencse gyújtótávolságának egy-kétszerese között kell lennie. Ezért ez és a gyújtótávolság két fogalom. Amit általában fókuszálásnak neveznek, az valójában a munkatávolság beállítása.


Az objektívlencse bizonyos numerikus rekeszértéke esetén a munkatávolság rövid, a rekeszszög pedig nagy.


A nagy teljesítményű, nagy numerikus rekesznyílású objektívnek kicsi a munkatávolsága.


7. Gyenge lefedettség
A mikroszkóp optikai rendszeréhez tartozik a fedőlemez is. A fedőüveg nem szabványos vastagsága miatt a fény optikai útja a fedőüvegből a levegőbe jutva megváltozik, ami fáziskülönbséget eredményez, ami rossz fedés. A gyenge lefedettség befolyásolja a mikroszkóp hangminőségét.


A nemzetközi előírások szerint a fedőüveg szabványos vastagsága 0,17 mm,


A megengedett tartomány: {{0}}.16-0.18 mm. A fáziskülönbséget ebben a vastagságtartományban az objektívlencse gyártása során számították ki. Az objektívlencse héjának szabványa valóban 0,17, ami azt jelenti, hogy az objektívhez a fedőüveg vastagsága szükséges.

 

3 Continuous Amplification Magnifier -

 

 

A szálláslekérdezés elküldése