Számos különbség a pásztázó elektronmikroszkópok és a metallográfiai mikroszkópok között
Az anyagelemzési kísérletekben gyakran alkalmazunk pásztázó elektronmikroszkópot és metallográfiai mikroszkópot. Mi a különbség a két eszköz használatában? A Tianzong Testing (SKYALBS) összefoglalt néhány információt itt referenciaként, és mindenkivel megosztja.
A metallurgiai mikroszkóp olyan mikroszkóp, amely beeső megvilágítást használ a fémminta felületének (fémszerkezetének) megfigyelésére. Az optikai mikroszkóp technológia, a fotoelektromos konverziós technológia és a számítógépes képfeldolgozó technológia tökéletes kombinálásával fejlesztették ki. Csúcstechnológiás termék, amely könnyen megfigyelheti a metallográfiai képeket számítógépen, ezáltal elemezheti, értékelheti, valamint kiadhatja és kinyomtathatja a képeket.
A pásztázó elektronmikroszkópia (SEM) egy mikroszkopikus morfológiai megfigyelési módszer a transzmissziós elektronmikroszkópia és az optikai mikroszkópia között. Közvetlenül felhasználhatja a mintafelületi anyagok anyagtulajdonságait a mikroszkópos képalkotáshoz. A másodlagos elektronjel-leképezéssel elsősorban a minta felületi morfológiáját figyelik meg, azaz rendkívül keskeny elektronnyalábot használnak a minta pásztázására, és az elektronsugár és a minta kölcsönhatása révén különféle hatások jönnek létre, a fő. amely a minta másodlagos elektronemissziója. A szekunder elektronok a minta felületéről felnagyított topográfiai képet készíthetnek. Ez a kép időbeli sorrendben jön létre a minta szkennelésekor, vagyis a kinagyított képet pontról pontra történő leképezéssel kapjuk meg.
A két mikroszkóp közötti fő különbségek a következők:
1. Különböző fényforrások: A metallográfiai mikroszkópok látható fényt használnak fényforrásként, a pásztázó elektronmikroszkópok pedig elektronsugarat használnak fényforrásként a képalkotáshoz.
2. Különböző elvek: A metallográfiai mikroszkópok geometriai optikai képalkotási elveket használnak a képalkotáshoz, míg a pásztázó elektronmikroszkópok nagy energiájú elektronsugarak segítségével bombázzák a minta felületét, hogy a minta felületén különböző fizikai jeleket stimuláljanak, majd különböző jeldetektorokat használnak a minta vételére. fizikai jeleket, és azokat képpé alakítja. információ.
3. Különböző felbontások: A fény interferencia és diffrakciója miatt a metallográfiai mikroszkóp felbontása csak 0.2-0.5um-ra korlátozható. Mivel a pásztázó elektronmikroszkóp elektronsugarat használ fényforrásként, felbontása 1-3 nm közé eshet. Ezért a metallográfiai mikroszkóp alatti szövetmegfigyelés a mikronszintű analízishez, míg a pásztázó elektronmikroszkópos szövetmegfigyelés a nanoszintű elemzéshez tartozik.
4. Eltérő mélységélesség: Általában a metallográfiai mikroszkóp mélységélessége 2-3um között van, így rendkívül magas követelményeket támaszt a minta felületi simaságával szemben, így a minta-előkészítési folyamata viszonylag bonyolult. A pásztázó elektronmikroszkóp nagy mélységélességgel, nagy látómezővel és háromdimenziós képpel rendelkezik, és közvetlenül képes megfigyelni a különböző minták egyenetlen felületeinek finom szerkezetét.
Általánosságban elmondható, hogy az optikai mikroszkópokat elsősorban sima felületeken lévő mikronszintű struktúrák megfigyelésére és mérésére használják. Mivel fényforrásként látható fényt használnak, nemcsak a minta felszíni szövete figyelhető meg, hanem a felszín alatti bizonyos tartományon belüli szövetek is megfigyelhetők, és az optikai mikroszkópok nagyon érzékenyek és pontosak a színfelismerésre. Az elektronmikroszkópokat elsősorban nanoméretű minták felületi morfológiájának megfigyelésére használják. Mivel a SEM a fizikai jelek intenzitására támaszkodik a szöveti információk megkülönböztetéséhez, a SEM képei mind fekete-fehérek, és a SEM nem képes azonosítani a színes képeket. A pásztázó elektronmikroszkóp azonban nem csak a minta felületének szervezeti morfológiáját tudja megfigyelni, hanem az elemek kvalitatív és kvantitatív elemzésére is használható kiegészítő berendezések, például energiaspektrum-analizátorok segítségével, valamint olyan információk elemzésére is használható, mint pl. minta kistérségek kémiai összetétele.
