A mikroszkóp elérhető megvilágítási tartományai
A kézi modellek mellett a mikroszkóp az új motoros univerzális megvilágítókkal is elérhető. A fehér LED-es megvilágító világos terepi megfigyelésre alkalmas. A felhasználók a megfigyelési célnak és munkának megfelelően választhatnak 12V50W halogén lámpát vagy fehér LED fényforrást.
Mikroszkóp LV-UEP1 univerzális epi-illuminátor, ez az univerzális epi-világító fényes mezőt, sötét mezőt, egyszerű polarizált fényt és DIC megfigyelést is tud végezni. A megvilágító automatikusan kinyitja a mező és a rekeszmembránokat, amikor világosmezőről sötétmezőre vált. Amikor visszatér a fényes mezőhöz, a megvilágító automatikusan visszaállítja a korábbi mező- és rekeszviszonyokat.
Az LV-UEP2 mikroszkópos általános célú epi-illuminátor a világos mezőn, a sötét mezőn, az egyszerű polarizált fényen és a DIC-en kívül epifluoreszcencia megfigyelésre is képes. A megvilágító összekapcsolt szerkezete a zárral, a látómezővel és a rekeszmembránnal automatikusan beállítja az optimális fényviszonyokat. Ez a funkció minimálisra csökkenti a mérőmikroszkóp kezelésének bonyolultságát, lehetővé téve a felhasználó számára, hogy a megfigyelésre koncentráljon.
Mikroszkóp LV-UEP1 FA univerzális Epi-Illuminator Fókuszasszisztens, ez az univerzális Epi-Illuminator opcionális dikroikus prizmás fókuszú FA-mechanizmussal van felszerelve, hogy jobb tisztaságot biztosítson a Z tengelyen végzett méréseknél.
Mikroszkóp metallográfiai mikroszkóp mérési szoftver elemzés
1) A szoftver vízszintes vonalakat, függőleges vonalakat, átlós vonalakat, köröket és egyéb csomópontmérési módszereket biztosít a szemcseméret mérésére. Automatikusan meg tudja határozni a szemcsehatárok gyors mérését és kiszámítását, és választhat kézi vagy automatikus mérési módszereket. A mérési adatok statisztikailag elemezhetők, majd a kimenet Excel jelentésbe exportálható.
2) Segítse a felhasználókat a metallográfiai szferoidizációs sebesség elemzésében és mérésében olyan paraméterek használatával, mint a kerekség, a terület és az alak
3) A terület és a területszázalék a kiválasztott metallográfiai anyag kategóriája szerint számítható
4) Használható porózus anyagok felületi porozitásának elemzésére vagy a pórusok méretének és területének meghatározására is
5) A nagy nagyítású objektívlencse és a numerikus rekesznyílás korlátainak leküzdése érdekében a kis függőleges mélységélesség és a függőleges magasságkülönbség miatt a metallográfiai felület
homályos probléma
