Metalografikus mikroszkóp rendszerek élettartamának meghosszabbítására szolgáló módszerek
1. Ha a körülmények megengedik, javasoljuk, hogy a laboratóriumban három védelmi feltétel legyen: ütésálló (a földrengés forrásától távol), nedvességálló (légkondicionáló és szárítógépek használatával) és porálló (padlóval fedje le a talajt); Tápellátás: 220V ± 10%, 50Hz; Hőmérséklet: 0°C-40°C.
2. Fókuszáláskor ügyeljen arra, hogy az objektívlencse ne érjen hozzá a mintához, nehogy megkarcolja az objektívlencsét.
3. Ne cserélje ki az objektívlencsét, ha a tárgyasztalon lévő kör alakú lyuk közepe messze van az objektívlencse közepétől, nehogy megkarcolódjon.
4. A fényerő beállítása ne legyen túl erős vagy túl erős, mert ez befolyásolhatja az izzó élettartamát és a látást is.
5. Minden (funkció) kapcsoló legyen világos és a helyén legyen.
6. Kikapcsoláskor állítsa a fényerőt minimumra.
7. Nem szakemberek ne állítsák be a világítási rendszert (izzószál helyzetjelző lámpát), hogy elkerüljék a képminőség befolyásolását.
8. A halogén lámpák cseréjekor ügyeljen a magas hőmérsékletre, hogy elkerülje az égési sérüléseket; Ügyeljen arra, hogy kézzel ne érintse meg közvetlenül a halogénlámpa üvegházát.
9. Ha ki van kapcsolva és nincs használatban, állítsa az objektívet a legalacsonyabb helyzetbe a fókuszmechanizmus segítségével.
10. Leállításkor és használaton kívül ne takarja le azonnal a porvédő fedelet. A letakarás előtt várja meg, amíg kihűl, és ügyeljen a tűzmegelőzésre. A fenti pontok csak néhány olyan terület, amelyekre különös figyelmet kell fordítani. Remélem, mindenki legyen óvatos és körültekintő a mikroszkóp használatakor. Ha olyan probléma merül fel, amely a mikroszkóp használata során önmagában nem oldható meg, azonnal forduljon a mikroszkóp kereskedőhöz telefonon, hogy megoldást találjanak.
jellegzetes:
1. A pásztázó transzmissziós elektronmikroszkópos technológia nagy vákuumot igényel, és az elektronikus rendszerek összetettebbek, mint a TEM és a SEM.
2. Az alacsony gyorsulási feszültség jelentősen csökkentheti a mintát érő elektronsugár károsodását, és nagymértékben javíthatja a kép kontrasztját, így különösen alkalmas lágy anyagminták, például szerves polimerek és biológia transzmissziós elemzésére.
3. Vastagabb minták és alacsony kontrasztú minták figyelhetők meg.
4. Az objektívlencse erős gerjesztése a pásztázási átviteli mód során mikroterületi diffrakciót eredményezhet.
5. Ha a pásztázó elektronmikroszkópos pásztázó transzmissziós elektronmikroszkópos módot használjuk biológiai minták megfigyelésére, a minták közvetlenül, festés nélkül is megfigyelhetők, így nagy kontrasztú képeket kapunk.
