Metallográfiai mikroszkóp beállítási módszer,
A metallográfiai mikroszkóp az optikai mikroszkóp technológia, a fotoelektromos konverziós technológia és a számítógépes képfeldolgozó technológia tökéletes kombinációja, hogy csúcstechnológiás termékké fejlődjön, amely könnyen megfigyelhető a metallográfiai képek számítógépekkel, és metallográfiai atlaszok, minősítések, kimeneti grafika, nyomtatás stb. Mint mindannyian tudjuk, ötvözet összetétel, hőkezelés...
A metallográfiai mikroszkóp az optikai mikroszkóp technológia, a fotoelektromos konverziós technológia és a számítógépes képfeldolgozó technológia tökéletes kombinációja, hogy csúcstechnológiás termékké fejlődjön, amely könnyen megfigyelhető a metallográfiai képek számítógépekkel, valamint metallográfiai atlaszok, minősítések, kimeneti grafika, nyomtatás stb. Mint mindannyian tudjuk, az ötvözet összetétele, a hőkezelés, valamint a hideg-meleg feldolgozási technológia közvetlenül befolyásolja a fémanyag belső mechanizmusszerkezetének változását, így az alkatrész mechanikai tulajdonságai megváltoznak. Ezért az ipari termelés fontos eszközévé vált a fém belső mechanizmusszerkezetének metallográfiai mikroszkópos elemzésével történő megfigyelése és vizsgálata. Tehát mi a metallográfiai mikroszkóp beállításának és használatának módja? A következő szerkesztő bemutatja Önnek.
Metallográfiai mikroszkóp beállítási módszer:
1. 10x objektív beállítás
A metallográfiai mikroszkóp alkalmazási folyamatában a 10x-es objektív a szokásos általános objektív a fókuszálási munkában. Eleinte 10x-es objektívről kisebb nagyítású objektívre, vagy 10x-es objektívről nagyobb nagyítású objektívre váltva nem lesz drasztikus változás. További szempont, hogy az alacsonyabb nagyítású objektív lencséjének fókuszmélysége hosszú, és a megfigyelő szabad látása nem tetszés szerint van a középpontban, és a minta és a lencse közötti érintkezés könnyen létrejöhet, ha közvetlenül a nagy nagyítású objektívre vált. lencse.
A 10x-es objektív nem csak az élességállítási munkában szokásos általános objektív, hanem a gyakorlati munkában is sokat jelent. Például a metallográfiai vizsgálat számos vonatkozó nemzeti szabványában a legelterjedtebb a referenciastandard spektrumainak összehasonlítása 100-szoros megfigyelés feltétele mellett, és a 100-szoros felvétel 10-szeres objektívlencséből és 10-szeres szemlencséből származik. Az elméleti vezérlésből kiindulva, mindaddig, amíg az nem véletlenszerű vagy rosszindulatú, a következő vezérlési műveletnek az objektív lencsét a fókuszsík közelébe kell helyeznie. 10-szeres objektív esetén a minta helyes elhelyezése után elmosódott képnek, vagy akár viszonylag tiszta képnek kell lennie. , csak egy kis karbantartás és finomhangolás.
2. Releváns be- és kilépés
Az alacsony nagyítású objektívlencsékről nagy nagyítású objektívre való váltás utáni fókuszálás kérdésében a mikroszkóp jelenlegi gyártási folyamatának fejlesztése miatt a különböző mikroszkóp objektívlencsék parfokális teljesítménye viszonylag jó, különösen a tengerentúli termékek esetében. Megfigyeléskor néha nem kell újra fókuszálnia. A kép már nagyon tiszta; lehet, csak növelje meg kissé a tárgytávolságot, és a beállítás mértéke biztosan nem az 1-3 kör fogalma, vagyis az 1-3 fok (szög) fogalma, ami rendkívül bonyolult. Mennyiség.
3. Az objektív-átalakítóról
Az objektív cseréjekor ne nyomja meg közvetlenül kézzel az objektívlencsét, különben könnyen meglazul az erős objektívlencse csavarmenete, és az optikai tengely megbillen. A mikroszkóp objektívlencséje és a mikroszkopikus digitális kamerarendszer az objektív-átalakítóra van csavarozva. Különböző objektívlencsék cseréjekor addig cserélje az objektív-átalakítót, amíg a fül enyhe "kattanó" hangot nem hall, és nem érzi, hogy az ellenállás meredeken növekszik. Ekkor az objektív normál munkahelyzetben van: merőleges a színpad síkjára.
A fenti tartalom bevezető a metallográfiai mikroszkópok beállításába és használatába. A metallográfiai mikroszkópokat kifejezetten átlátszatlan tárgyak, például fémek és ásványok megfigyelésére használják. Ezeket az átlátszatlan tárgyakat nem lehet megfigyelni hagyományos áteresztő fénymikroszkóppal. A fő különbség a metallográfiai mikroszkópok és a közönséges mikroszkópok között az, hogy az előbbit visszavert, míg az utóbbit áteresztett fénnyel világítják meg. A metallográfiai mikroszkópban a megvilágító sugarat az objektívlencse irányából a megfigyelendő tárgy felületére vetítik, visszaverik a tárgyfelületről, majd visszahelyezik az objektívlencsére képalkotás céljából. Ezt a visszavert megvilágítási módszert széles körben alkalmazzák az integrált áramköri szilíciumlapkák kimutatására is.
