Bevezetés a metallográfiai mikroszkóp alkalmazására a különféle iparágakban
Eredetileg a metallográfiából származik, fő célja a metallográfiai struktúrák megfigyelésének professzionális eszköze. Ez egy olyan mikroszkóp, amelyet kifejezetten az átlátszatlan tárgyak, például fémek és ásványi anyagok metallográfiai szerkezetének megfigyelésére terveztek. Ezeket az átlátszatlan objektumokat nem lehet megfigyelni egy normál átviteli fénymikroszkóppal, tehát az arany és a szokásos mikroszkóp közötti fő különbség az, hogy az előbbit visszavert fényvilágítással megvilágítja, míg az utóbbit az átadott fény megvilágítja.
A metallográfiai mikroszkópok jellemzői a jó stabilitás, a tiszta képalkotás, a nagy felbontás és a nagy és lapos látóterület jellemzői. Nemcsak mikroszkopikus megfigyelést végez a szemlencsén, hanem megfigyelheti a valós idejű dinamikus képeket a számítógépen (digitális fényképezőgép) képernyőn, és szerkesztheti, mentheti és kinyomtathatja a szükséges képeket. Elsősorban hardverben, szeletelésben, IC komponensekben, LCD/LED -ben és más mezőkben használják.
Mivel ötféle metallográfiai mikroszkóp -lencsé van: EPI fényes mező fluoreszcencia; BD fényes és sötét mező; SLWD ultra hosszú munka távolság; Az ELWD erősíti a működési távolságot; Korrekciós gyűrűvel van felszerelve. A hardveriparban néhány súlyos reflexióval rendelkező hardver alkatrész megfigyelhető, fényes és sötét mezőkkel ellátott BD lencsék felhasználásával. Például az LCD-iparban a vezetőképes részecskék megfigyelése és mérésekor a metallográfiás mikroszkópot párosíthatjuk a DIC-vel is, hogy az objektum háromdimenziós jobban néz ki. Mivel polarizált, egy mikroszkopikus megfigyelési technika, amely két színszűrőt használ a polarizált fény képzésére. A kettős törés tulajdonságai alapján az optikai út iránya megváltoztatható. Természetesen a polarizált fény csak a DIC -vel együtt használható, és önmagában kevés jelentőséggel bír. A metallográfiás mikroszkópot használják a kis dimenziók, például az IC komponensek és a metallográfiai metszetek mérésére és elemzésére. Mérhető az intelligens Iview Sims szoftver segítségével, amely nagy pontossággal rendelkezik és hatékonyan csökkenti az emberi mérési hibákat. Könnyen megtanulható és használható, könnyen mérheti és elemezheti a releváns dimenziókat, például pontokat, vonalakat, íveket, félig meridiánokat, egyenes meridiánokat, szögeket stb.
