Mennyit tud a metallográfiai analizátorokhoz használt mikroszkópos terminológiáról?
numerikus rekesznyílás
A numerikus apertúra a metallográfiai mikroszkóp objektívlencséjének és kondenzátorának fő műszaki paramétere. A numerikus rekesznyílás, rövidítve NA, fontos szimbólum a kettő (főleg az objektív) teljesítményének megítéléséhez. A számértékek az objektívlencse és a kondenzátor házán vannak jelölve.
A numerikus apertúra (NA) az objektív elülső lencse és a vizsgált tárgy közötti közeg törésmutatójának (n) és a rekeszszög felének szinuszának (u) szorzata. A képlet a következőképpen fejezhető ki: NA=nsinu/2
felbontás
A metallográfiai mikroszkóp felbontása a mikroszkóp által egyértelműen megkülönböztethető két tárgypont közötti minimális távolságra, más néven megkülönböztetési rátára vonatkozik. A számítási képlet σ=λ/NA
A képletben σ a minimális felbontási távolság; λ a fény hullámhossza; Az NA az objektív numerikus rekeszértéke. Látható, hogy az objektívlencse felbontását két tényező határozza meg: az objektív NA értéke és a megvilágító forrás hullámhossza. Minél nagyobb az NA érték, annál rövidebb a megvilágítás hullámhossza, annál kisebb a σ érték és annál nagyobb a felbontás.
Nagyítás és hatékony nagyítás
Az objektívlencse és a szemlencse két nagyítása miatt a mikroszkóp teljes nagyítása Γ az objektívlencse nagyításának és a Γ1 szemlencse nagyításának a szorzata legyen: Γ= Γ1
Nyilvánvaló, hogy a nagyítóhoz képest a mikroszkóp sokkal nagyobb nagyítású lehet, és a mikroszkóp nagyítása könnyen megváltoztatható különböző nagyítású objektívlencsék és szemlencsék cseréjével.
A fókusz mélysége
A fókuszmélység a fókuszmélység rövidítése. Vagyis mikroszkóp használatakor, amikor a fókusz egy tárgyon van, nem csak a sík minden pontja látható tisztán, hanem egy bizonyos vastagságon belül a sík felett és alatt is jól látható. Világosnak kell lennie, hogy ennek az átlátszó résznek a vastagsága a fókusz mélysége. Ez különösen fontos a videomikroszkópiában.
A látómező átmérője
Mikroszkóp megfigyelésekor a látható fényes körkörös tartományt látómezőnek nevezzük, méretét pedig a szemlencsében lévő membrán határozza meg.
A látómező átmérője, más néven a látómező szélessége, a vizsgált tárgy tényleges hatótávolságára utal, amely a mikroszkóp alatt látható körkörös látómezőben elhelyezhető. Minél nagyobb a látómező átmérője, annál könnyebben megfigyelhető.
gyenge lefedettség
A mikroszkóp optikai rendszeréhez tartozik a fedőlemez is. A fedőüveg nem szabványos vastagsága miatt a fedőüvegről megtört fény optikai útja a levegőbe megváltozik, ami fáziskülönbséget eredményez, ami a fedési különbség. A rossz lefedettség a metallográfiai mikroszkópok hangminőségét befolyásolja.
munkatávolság
A munkatávolságot tárgytávolságnak is nevezik, amely a tárgylencse elülső lencséjének felülete és a vizsgált tárgy közötti távolságra utal. A mikroszkópos vizsgálat során a vizsgálandó tárgynak az objektív gyújtótávolságának egy-kétszerese között kell lennie. Ezért ez és a gyújtótávolság két különböző fogalom. Amit általában fókuszálásnak nevezünk, az valójában egy metallográfiai mikroszkóp munkatávolságának beállítása.
