Mennyit tud a metallográfiai analizátorokban használt mikroszkóp kifejezésekről?
Numerikus rekesznyílás
A numerikus apertúra az objektívlencse és a metallográfiai mikroszkóp kondenzátorlencséjének fő műszaki paramétere. A numerikus rekesznyílás rövidítése NA, ami fontos szimbólum a kettő teljesítményének megítéléséhez (különösen az objektív esetében). Számértékének mérete rendre fel van tüntetve az objektív és a gyűjtőlencse burkolatán.
A numerikus apertúra (NA) az objektívlencse elülső lencséje és a vizsgálandó tárgy közötti közeg törésmutatójának (n) és a rekeszszög felének szinuszának (u) szorzata. A képlet a következő: NA=nsinu/2
felbontás
A metallográfiai mikroszkóp felbontása a mikroszkóp által egyértelműen megkülönböztethető két tárgypont közötti minimális távolságra, más néven megkülönböztetési rátára vonatkozik. Számítási képlete σ=λ/NA
ahol σ a minimális felbontási távolság; λ a fény hullámhossza; Az NA az objektív numerikus rekeszértéke. A látható objektívlencse felbontását két tényező határozza meg: az objektív lencse NA értéke és a megvilágító forrás hullámhossza. Minél nagyobb az NA érték, annál rövidebb a megvilágítás hullámhossza, és minél kisebb a σ érték, annál nagyobb a felbontás.
Nagyítás és hatékony nagyítás
Az objektívlencse és a szemlencse két nagyítása miatt a mikroszkóp teljes nagyítása Γ az objektívlencse nagyítása és a Γ1 szemlencse nagyítás szorzata legyen: Γ= Γ1
Nyilvánvaló, hogy a nagyítóhoz képest a mikroszkóp sokkal nagyobb nagyítású lehet, és a mikroszkóp nagyítása könnyen változtatható az objektívlencse és a szemlencse különböző nagyítású cseréjével.
fókusz mélysége
A fókuszmélység a fókuszmélység rövidítése, vagyis mikroszkóp használatakor, amikor a fókusz egy bizonyos tárgyon van, nem csak a pont síkjának minden pontja látható tisztán, hanem egy bizonyos vastagságon belül is. és a sík alatt, Hogy világos legyen, ennek a tiszta résznek a vastagsága a fókusz mélysége. Ez különösen fontos a videomikroszkópiában.
A mező átmérője
Mikroszkóp megfigyelésekor a látható fényes kör alakú területet látómezőnek nevezzük, méretét pedig a szemlencse membránja határozza meg.
A látómező átmérőjét a látómező szélességének is nevezik, ami a vizsgált tárgy tényleges hatótávolságára vonatkozik, amely a mikroszkóp alatt látható körkörös látómezőben elhelyezhető. Minél nagyobb a látómező átmérője, annál könnyebben megfigyelhető.
gyenge lefedettség
A mikroszkóp optikai rendszeréhez tartozik a fedőlemez is. A fedőüveg nem szabványos vastagsága miatt a fény optikai útja a fedőüvegből a levegőbe jutva megváltozik, ami fáziskülönbséget eredményez, ami rossz fedés. A gyenge lefedettség befolyásolja a metallográfiai mikroszkóp hangminőségét.
munkatávolság
A munkatávolságot tárgytávolságnak is nevezik, ami a tárgylencse elülső lencséjének felülete és a vizsgálandó tárgy közötti távolságra utal. A mikroszkópos vizsgálat során a vizsgálandó tárgynak a tárgylencse gyújtótávolságának egy-kétszerese között kell lennie. Ezért ez és a gyújtótávolság két fogalom. Amit általában fókuszálásnak neveznek, az valójában a metallográfiai mikroszkóp beállítási munkatávolsága.
