A pásztázó szonda mikroszkópok jellemzői
A pásztázó szondás mikroszkóp a harmadik mikroszkóp az anyag szerkezetének atomi léptékben történő megfigyelésére a terepi ionmikroszkópia és a nagy felbontású transzmissziós elektronmikroszkópia után. Példaként a pásztázó alagútmikroszkópot (STM) véve oldalirányú felbontása 0,1~0,2 nm, függőleges mélységi felbontása pedig 0,01 nm. Az ilyen felbontás egyértelműen megfigyelheti a minta felületén eloszló egyes atomokat vagy molekulákat. Ugyanakkor a pásztázó szondás mikroszkóp megfigyelési kutatásokat is végezhet levegőben, más gázokban vagy folyékony környezetben.
A pásztázó szondás mikroszkópok az atomi felbontás, az atomtranszport és a nano-mikrofeldolgozás jellemzőivel rendelkeznek. A különböző pásztázó mikroszkópok részletesen eltérő működési elve miatt azonban az általuk kapott eredmények által visszatükröződő információ a minta felületén nagyon eltérő. A pásztázó alagútmikroszkóppal a minta felületén lévő elektronállomások eloszlási információit mérik, amelyek atomi szintű felbontásúak, de még mindig nem tudják megállapítani a minta valódi szerkezetét. Az atommikroszkóp érzékeli az atomok közötti kölcsönhatási információkat, így megkapható a mintafelületen az atomeloszlás elrendezésének információja, vagyis a minta valós szerkezete. De másrészt az atomerőmikroszkóp nem tudja mérni az elmélettel összevethető elektronikus állapotinformációt, így a kettőnek megvannak a maga előnyei és hátrányai.
