A függőleges és fordított metallográfiai mikroszkópok közötti használat különbségei
A függőleges és a fordított közötti különbség egyszerűen az, hogy a függőleges mintát az alábbiakban helyezzük el, és a fordított mintát fent helyezzük el. A függőleges objektív lencse lefelé néz, és a fordított objektív lencse felfelé néz.
A fordított metallográfiai mikroszkópot általában használják a gyári laboratóriumokban, a tudományos kutatóintézményekben és az egyetemekben, mivel a minta megfigyelési felülete egybeesik a munkaasztal felületével, és a megfigyelési cél a munkafolyamat alatt helyezkedik el, miközben felfelé figyel. Ezt a megfigyelési formát nem korlátozza a minta magassága, és a minta elkészítésekor csak egy megfigyelési felület van. A fordított metallográfiai mikroszkóp alapnak nagy tartóhelye van, alacsony súlypontja, stabil és megbízható. A szemlencsét és a tartófelületet 45 fokon dőlünk a kényelmes megfigyelés céljából.
A függőleges metallográfiai mikroszkóp ugyanolyan alapfunkciókkal rendelkezik, mint a fordított metallográfiai mikroszkóp. A 20-30 mm magasságú fémminták elemzése és azonosítása mellett szélesebb körben használják átlátszó, félig átlátszó vagy átlátszatlan anyagokhoz, mivel megfelel az emberi napi szokásoknak. A függőleges metallográfiai mikroszkóp pozitív képet hoz létre a megfigyelés során, ami nagymértékben megkönnyíti a felhasználó megfigyelését és azonosítását. A 20-30 mm magasságú fémminták elemzése és azonosítása mellett a 3 mikronnál nagyobb és 20 mikronnál kisebb célok megfigyelése, például fémkerámia, elektronikus chips, nyomtatott áramkörök, LCD szubsztrátok, filmek, rostok, szemcsés tárgyak, bevonatok és egyéb anyagok jó képalkotó hatásokat érhetnek el felületükre és vonására.
