Választás az álló és a fordított mikroszkóp között
A metallográfiai mikroszkópokat, más néven anyagmikroszkópokat elsősorban a fémek mikroszerkezetének megfigyelésére használják. Ezeket függőleges metallográfiai mikroszkópokra és fordított metallográfiai mikroszkópokra osztják.
Az álló metallográfiai mikroszkóp a megfigyelés során felálló képet alkot, ami nagy kényelmet nyújt a felhasználók számára a minták megfigyelésében és azonosításában. 20-30 mm magas fémmintákat képes elemezni és azonosítani. Az emberek napi nézési szokásaival összhangban széles körben alkalmazzák átlátszó, áttetsző és átlátszatlan anyagoknál. Kiváló képalkotási eredményeket biztosít a 3 μm-nél kisebb és 20 μm-nél kisebb méretű megfigyelési célpontok esetében, mint például a felületi struktúrák és fémkerámia nyomai, elektronikus chipek, nyomtatott áramkörök, LCD-hordozók, vékony filmek, szálak, szemcsés anyagok és bevonatok. Emellett a külső kamerarendszer kényelmesen csatlakoztatható kijelzőhöz és számítógéphez valós idejű és statikus képmegtekintéshez, tároláshoz, szerkesztéshez és nyomtatáshoz. Különféle szoftverekkel kombinálva megfelel a professzionális metallográfia, mérés és interaktív oktatás követelményeinek.
A fordított metallográfiai mikroszkóp optikai síkképet alkalmaz a különböző fémek és ötvözetek mikroszerkezetének azonosítására és elemzésére. A fémfizikai metallográfiai kutatások fontos eszköze. A gyárakban és laboratóriumokban széles körben használatos öntvényminőség-ellenőrzést, nyersanyagvizsgálatot, valamint a folyamatkezelés utáni anyagok metallográfiai szerkezetének kutatását és elemzését végzi, intuitív elemzési eredményeket biztosítva. Kritikus berendezés az öntés, olvasztás és hőkezelés minőségi azonosításához és elemzéséhez a bányászatban, a kohászatban, a feldolgozóiparban és a gépi feldolgozóiparban.
Az elmúlt években a mikroelektronikai ipar nagy nagyítású síkmikroszkópos technológiát igényel a chipgyártás támogatásához. Ezért ezen a területen a metallográfiai mikroszkópokat vezették be és népszerűsítették, folyamatos fejlesztésekkel, hogy megfeleljenek a speciális ipari követelményeknek.
Invertált metallográfiai mikroszkópok esetén a minta megfigyelési felülete lefelé néz, és egy síkban illeszkedik a munkaasztal felületéhez. Az objektív a munkaasztal alá van szerelve, és felfelé figyel. Ezt a megfigyelési módot nem korlátozza a minta magassága. A műszer könnyen kezelhető, kompakt és elegáns megjelenésű. Nagy alapcsapágyfelülettel és alacsony súlyponttal rendelkezik a stabil és megbízható működés érdekében. A szemlencse 45 fokban dönthető a csapágyfelülethez képest, hogy kényelmes megfigyelést biztosítson.
