Az atomerőmikroszkópos (AFM) rendszer felépítése
1. Erőérzékelési szakasz:
Az atomerőmikroszkópos rendszerben (AFM) a detektálandó erő az atomok közötti van der Waals erő. Tehát ebben a rendszerben egy konzolt használnak az atomok közötti erőváltozások észlelésére. Ennek a mikrokonzolnak vannak bizonyos specifikációi, mint például a hossz, a szélesség, a rugalmassági együttható és a tűhegy alakja, és ezeknek a specifikációknak a kiválasztása a minta jellemzői és a különböző működési módok alapján történik, valamint különböző típusú szondákat választanak ki.
2 Pozícióérzékelés szakasz:
Az atomerőmikroszkópos (AFM) rendszerben, amikor a tű hegye és a minta kölcsönhatásba lép, a konzolos konzol leng. Ezért amikor a lézert a konzol végén besugározzák, a visszavert fény helyzete is megváltozik a konzollengés miatt, ami eltolást eredményez. A teljes rendszerben a lézeres pontpozíció-érzékelő az eltolás rögzítésére szolgál, és elektromos jellé alakítja át az SPM vezérlő általi jelfeldolgozáshoz.
3 Visszacsatoló rendszer:
Az atomerőmikroszkóp (AFM) rendszerben, miután a jelet lézerdetektor veszi, visszacsatoló jelként használják a visszacsatoló rendszerben belső beállítási jelként, és mozgatja az általában piezoelektromos kerámiacsövekből készült szkennert. megfelelően, hogy fenntartsa a megfelelő erőt a minta és a tű hegye között.
Az atomerő-mikroszkóp (AFM) a fenti három részt egyesíti a minta felületi jellemzőinek bemutatására: az AFM rendszerben egy apró konzollal érzékelik a tű hegye és a minta közötti kölcsönhatást. Ez az erő a konzolt kilengeni fogja, majd a lézerrel besugározzák a konzol végét. Amikor a lengés kialakul, a visszavert fény helyzete megváltozik, ami eltolást okoz. Ekkor a lézerdetektor rögzíti ezt az eltolást, és a visszacsatoló rendszernek is jelet ad, hogy megkönnyítse a rendszer megfelelő beállítását. Végül kép formájában bemutatjuk a minta felületi jellemzőit.
