+86-18822802390

Mi a különbség az álló mikroszkóp és a fordított mikroszkóp között?

Sep 01, 2023

Mi a különbség az álló mikroszkóp és a fordított mikroszkóp között?

 

A metallográfiai mikroszkóp, más néven anyagmikroszkóp, elsősorban a fémszerkezetek szerkezetének megfigyelésére szolgál, és függőleges metallográfiai mikroszkópra és fordított metallográfiai mikroszkópra osztható.


Az álló metallográfiai mikroszkóp pozitív képként fényképez a megfigyelés során, ami nagy kényelmet biztosít a felhasználó megfigyelésében és azonosításában. A 20-30 mm magas fémminták elemzése és azonosítása mellett szélesebb körben használják átlátszó, félig átlátszó vagy átlátszatlan anyagokban, mivel megfelel az emberi mindennapi szokásoknak. 3 mikronnál nagyobb, de 20 mikronnál kisebb tárgyak, például fémkerámiák, elektronikus chipek, nyomtatott áramkörök, LCD-hordozók, vékony filmek, szálak, szemcsés tárgyak, bevonatok és egyéb anyagok megfigyelése jó képalkotási hatást fejthet ki azok felületi szerkezetére, ill. nyomait. Ezen kívül a külső fényképező rendszer kényelmesen csatlakoztathatja a videoképernyőt és a számítógépet valós idejű és statikus képmegfigyeléshez, tároláshoz, szerkesztéshez, nyomtatáshoz, és különféle szoftvereket, amelyek megfelelnek a professzionálisabb metallográfiai, mérési és interaktív oktatási területek igényeinek. Az invertált metallográfiai mikroszkóp optikai síkképalkotási módszert használ a különböző fémek és ötvözetek mikroszerkezetének azonosítására és elemzésére. A fémfizikai metallográfia tanulmányozásának fontos eszköze, és széles körben használható gyárakban vagy laboratóriumokban az öntvényminőség, a nyersanyag-ellenőrzés, vagy a folyamatfeldolgozás utáni anyagok metallográfiai szerkezetének kutatására és elemzésére, intuitív elemzési eredményeket biztosítva. Öntőeszköz a bányászatban, a kohászatban, a feldolgozóiparban és a gépi feldolgozóiparban. Kulcsfontosságú berendezés az olvasztás és hőkezelés minőségértékeléséhez és elemzéséhez. Az elmúlt években a mikroelektronikai iparban a chipgyártást támogató, nagy nagyítású síkmikroszkópos technológia iránti igény miatt a metallográfiai mikroszkópokat bevezették és folyamatosan fejlesztették, hogy megfeleljenek az ipar speciális igényeinek. Invertált metallográfiai mikroszkóp, mivel a minta megfigyelési felülete egybeesik a munkaasztal felületével, és a megfigyelési objektív a munkapad alatt található felfelé irányuló megfigyeléshez, ennek a megfigyelési formának nincs határa a minta magasságával, ill. kényelmes a használata. A hangszer szerkezete kompakt, megjelenése pedig gyönyörű és elegáns. A fordított metallográfiai mikroszkóp alapja nagy támasztófelülettel, alacsony súlyponttal rendelkezik, stabil és megbízható. Az okulár és a tartófelület 45 fokban megdöntött, így kényelmes a megfigyelés.


A szabványos konfigurációválasztás mellett az invertált metallográfiai mikroszkóp közvetlen képkimeneti funkcióval rendelkezik a technológiai fejlesztés révén, amely könnyen csatlakoztatható számítógépekhez és szoftvereket alkalmazhat az intelligens feldolgozáshoz a folyamatkövetelményeknek megfelelően. Egyszerűen fogalmazva: helyezze a függőleges mintát alá, a fordított mintát pedig fölé. A függőleges objektív lefelé, a fordított objektív pedig felfelé néz. Vagyis a fordított lencse a tárgyasztal alatt van, a tesztblokk pedig lefelé fordítva van a színpadon. Ekkor a lencse lefelé van, és a tesztblokk felül van. A lencse alulról felfelé figyeli a tesztfelületet.


A függőleges lencsét a színpadra helyezzük, a tesztblokk felfelé néz. Ezen a ponton a lencse felül van, a tesztblokk függőlegesen áll, és a lencse felülről lefelé figyeli a tesztfelületet.


Egy bizonyos típusú mikroszkóp minta alapján történő kiválasztása után, ha mérlegeljük, hogy függőleges vagy fordított mikroszkópot válasszunk, alapvetően a fenti pontokra utalhatunk. Ugyanakkor figyelembe kell vennie a meglévő minta-előkészítési feltételeket is, mivel az álló mikroszkópok magasabb követelményeket támasztanak a minta-előkészítéssel szemben, míg a fordított mikroszkópok viszonylag alacsonyabbak.

 

4 Electronic Magnifier

 

 

A szálláslekérdezés elküldése