A DIC alapelveinek és alkalmazásainak rövid elemzése metallográfiai mikroszkópokban
Amikor mindenki metallográfiai mikroszkópos megfigyelést végez, létezik egy megfigyelési módszer, az úgynevezett differenciális interferencia-kontraszt módszer, vagy más néven DIC megfigyelési módszer. Ez egy viszonylag fejlett módszer, amelyet jelenleg csak külföldi márkájú berendezésekben alkalmaznak. A konkrét elv a következő: Mutasd be.
A metallográfiai mikroszkóphoz szükséges alkatrészek: polarizátor, analizátor, differenciális interferencia DIC chip (glaciális kőből).
A polarizátorok és analizátorok nélkülözhetetlenek a metallográfiai minták ortogonális polarizált fényének megfigyelésében. A világos/sötét mező megvilágítási egységbe vannak összeszerelve, és a differenciális interferencia-kontraszt módszer nélkülözhetetlen alkatrészei. A metallográfiai mikroszkóp polarizátora a fényforrást lineárisan polarizált fénnyé változtatja, amely kelet-nyugati irányban rezeg; az analizátor zavarhatja az interferenciafeltételeknek megfelelő koherens fényt.
A metallográfiai mikroszkóp differenciális interferencia DIC lemeze a differenciális interferencia-kontraszt módszer központi eleme. Vastagsága enyhén változik, enyhe változást okozva az optikai útban vagy az optikai útkülönbségben, és nyilvánvaló interferencia-kontraszt hatást kelt;
A differenciális interferencia DIC lemezek alkalmazása metallográfiai mikroszkópokban:
Figyelje meg a tárgy felületén a domborműben megjelenő részecskéket, repedéseket, lyukakat, kidudorodásokat, és helyes ítéleteket tud hozni.
Egyes munkadarabok felületigénye csökken. Amíg a polírozás nem igényel korróziót, addig a martenzit fázistranszformációs enyhülése látható.
Figyeljen meg néhány felületi részecske változást, például vezető ionok megfigyelését stb.
A fenti magyarázat révén úgy gondolom, hogy mindenki ismeri a differenciális interferencia DIC lapok elvét és alkalmazását metallográfiai mikroszkópokban.
