Miért jobb a lézeres konfokális mikroszkópos képminőség?
A lézeres konfokális mikroszkópia elve az, hogy a LED fényforrás által kibocsátott fénysugár többlyukú korongon és objektívlencsén halad át, és a minta felületére fókuszál. Ezt követően a sugár a minta felületén keresztül visszaverődik a mérőrendszerbe. Amikor ismét áthalad az MPD tűlyukain, a visszavert fény csak a fókuszált fénypontokat tartja meg. Végül a fénysugarat egy elosztó visszaveri, és leképezi a kamerán.
Miért jobb a lézeres konfokális mikroszkópos képminőség?
1. A lézeres konfokális mikroszkóp lézeres pásztázó technológiát alkalmaz. A hagyományos mikroszkópok széles spektrumú fényforrásaihoz képest a lézeres szkennelési technológia pontosan meg tudja határozni a minta bizonyos területeit, és azokra fókuszál, ezáltal javítva a képalkotás felbontását és pontosságát. Eközben a lézeres szkennelési technológia kiküszöbölheti a szóródást és a háttérjeleket a mintában, ezáltal javítva a képalkotás kontrasztját. Eközben a lézer monokromatikussága tisztábbá teszi a képalkotást.
2. A lézeres konfokális mikroszkópia nagyobb optikai apertúrájú (a mikroszkóp képessége a minta által kibocsátott fény fogadására) és nagy numerikus apertúrájú objektívvel (a lencse nagyítása), így a képalkotás tisztább és részletesebb.
3. A lézeres konfokális mikroszkóp nagy érzékenységű fotosokszorozó csövet használ detektáló elemként, amely nagy érzékenységet mutat a gyenge fluoreszcens jelekre. A gerjesztési tartomány csökkentésével és az optikai szeletelés használatával a háttérzajt is kiküszöbölheti.** A rendkívül érzékeny fotodióda detektorokkal felszerelt lézerkonfokális mikroszkóp gyorsan és pontosan képes érzékelni a fényjeleket, és elektromos jelekké alakítani.
A hagyományos optikai megfigyeléssel ellentétben a fotodióda detektorok képesek az egyes fotonok észlelésére, így a képalkotás érzékenyebbé és pontosabbá válik. Ez a nagy érzékenységű detektor alacsony fényintenzitás mellett is tiszta képeket tud készíteni.
A VT6000 lézeres konfokális mikroszkóp egy lyukpontos fényforrás konjugált konfokális elvén alapul, nanométer szintű hosszirányú felbontással. A nagy sebességű szkennelő modullal párosulva a professzionális elemző szoftver több területű és automatikus mérési funkciókkal rendelkezik, amelyek gyors és automatizált mérést tesznek lehetővé. Ezenkívül számos kontúrméret-paramétert biztosít, mint például a magasság, szélesség és szög a felület minőségének jellemzésére.
