Miért az elektronmikroszkópok sokkal nagyobb felbontásúak, mint az optikai mikroszkópok?
Mivel az elektronmikroszkópok elektronsugarat, az optikai mikroszkópok pedig látható fényt használnak, és az elektronnyaláb hullámhossza rövidebb, mint a látható fény hullámhossza, az elektronmikroszkóp felbontása sokkal nagyobb, mint az optikai mikroszkópé.
A mikroszkóp felbontása a mintán áthaladó elektronsugár kúp beesési szögével és hullámhosszával függ össze.
A látható fény hullámhossza körülbelül {{0}} nanométer, míg az elektronsugár hullámhossza a gyorsító feszültséghez kapcsolódik. A hullám-részecske kettősség elve szerint a nagy sebességű elektronok hullámhossza rövidebb, mint a látható fényé, a mikroszkóp felbontását pedig az általa használt hullámhossz korlátozza, így az elektronmikroszkóp felbontása (0,2 nanométer) jóval magasabb, mint egy optikai mikroszkópé (200 nanométer).
Az elektronmikroszkópos technológia alkalmazása a {{0}},2 μm felbontású optikai mikroszkópon és a 0,2 nm-es transzmissziós elektronmikroszkópon, azaz a transzmissziós elektronon alapul. A mikroszkóp az optikai mikroszkóp alapján 1,000-szeresére nagyításra kerül.
Bár az elektronmikroszkóp felbontása sokkal nagyobb, mint az optikai mikroszkópé, van néhány hátránya:
1, az elektronmikroszkópban a mintákat vákuumban kell megfigyelni, így élő minták megfigyelése nem lehetséges. A technológia fejlődésével a környezeti pásztázó elektronmikroszkóp fokozatosan megvalósítja az élő minták közvetlen megfigyelését;
A 2. ábra szerint a minta feldolgozása során olyan szerkezet keletkezhet, amely eredetileg nem volt jelen a mintában, ami tovább nehezíti a kép későbbi elemzését;
3, a rendkívül erős elektronszórási képesség miatt, hajlamos a másodlagos diffrakcióra és így tovább;
4, a háromdimenziós objektumok kétdimenziós síkvetítési képe miatt a kép néha nem egyedi;
5, mivel a transzmissziós elektronmikroszkóp csak nagyon vékony mintákat képes megfigyelni, és lehetséges, hogy az anyag felületének szerkezete eltér az anyag belső szerkezetétől;
6, ultravékony minták (100 nanométer alatt), a minta-előkészítési folyamat összetett és nehéz, és a minta-előkészítés sérült;
7, az elektronsugár károsíthatja a mintát ütközés és melegítés következtében;
8, elektronmikroszkóp vásárlása és karbantartása az ár viszonylag magas.
