Miért biztosít jobb képminőséget a lézeres pásztázó konfokális mikroszkóp?
A lézeres konfokális mikroszkópia elve az, hogy a LED fényforrás által kibocsátott fénysugarat porózus korongon és objektívlencsén való áthaladás után a minta felületére fókuszálják. Ezt követően a fénysugár a minta felületén keresztül visszaverődik a mérőrendszerbe. Amikor ismét áthalad az MPD tűlyukon, a visszavert fény csak a fókuszált pontot tartja meg. Végül a fénysugarat a sugárosztó visszaveri, és leképezi a kamerán.
A lézeres konfokális mikroszkóp lézeres szkennelési technológiát alkalmaz. **A hagyományos mikroszkópok széles spektrumú-fényforrásához képest a lézeres szkennelési technológia pontosan meg tudja határozni a minta bizonyos területeit, és azokra fókuszál, ezáltal javítva a képalkotás felbontását és pontosságát. Eközben a lézeres szkennelési technológia kiküszöbölheti a szóródást és a háttérjeleket a mintában, ezáltal javítva a képalkotás kontrasztját. Ugyanakkor a lézerek monokromatikussága tisztábbá teszi a képalkotást.
A lézeres konfokális mikroszkóp nagy optikai apertúrával rendelkezik
A lézeres konfokális mikroszkóppal egy rendkívül érzékeny fotosokszorozó csövet használnak érzékelő elemként, amely nagy érzékenységet mutathat a gyenge fluoreszcens jelekre. A háttérzajt is kiküszöbölheti a gerjesztési tartomány szűkítésével és optikai szeletelés használatával. **A rendkívül érzékeny fotodióda detektorokkal felszerelt lézeres konfokális mikroszkóp gyorsan és pontosan képes érzékelni az optikai jeleket és átalakítani azokat elektromos jelekké.
A hagyományos optikai megfigyeléssel ellentétben a fotodióda detektorok képesek az egyes fotonok észlelésére, így a képalkotás érzékenyebbé és pontosabbá válik. Ez a nagy-érzékenységű érzékelő alacsony fényintenzitású körülmények között is tiszta képeket tud készíteni.
A lézeres konfokális mikroszkóp a lyukpontos fényforrás konjugált konfokális elvén alapul, nanométer szintű longitudinális felbontással. A nagy sebességű-szkennelő modullal kombinálva a professzionális elemző szoftver több területű és automatikus mérési funkciókkal rendelkezik, amelyek gyors és automatizált mérést tesznek lehetővé, és számos kontúrméret-paramétert, például magasságot, szélességet és szöget biztosítanak a felület minőségének jellemzésére.
