Mi az ipari ellenőrző mikroszkópok osztályozása?
Az ipari ellenőrző mikroszkóp egy széles körben használt ellenőrző berendezés a modern ipari ellenőrzés területén, elsősorban a mikroszerkezet megfigyelésére, a minőség értékelésére és a kis tárgyak hibafelderítésére. A különböző alkalmazási forgatókönyvek és speciális követelmények szerint az ipari ellenőrző mikroszkópok különféle típusú berendezésekre oszthatók. Ez a cikk számos általános ipari ellenőrző mikroszkópot mutat be.
Először is, van egy videomikroszkóp, amelyhez nincs szükség okulárra, és közvetlenül a kijelzőn keresztül is megfigyelhető, így kevésbé hajlamos a megfigyelés közbeni fáradásra. Ezen túlmenően a videomikroszkóp integrált testtel rendelkezik, amelynek előnyei közé tartozik például a könnyű mozgás, az egyszerű kezelés és a széles látómező. Széles körben használják elektronikai eszközökben, műanyag alkatrészekben, integrált áramkörökben, vegyi anyagokban, üvegkerámiában és más területeken.
Másodszor, egy szerszámmikroszkóp használható a munkadarab méreteinek, szögeinek és egyéb paramétereinek mérésére a mérési tartományon belül. Ez egy többfunkciós eszköz, amelyet széles körben használnak olyan alkalmazásokban, mint például az áramköri lap tesztelése, a hardver tesztelése és a metrológiai tesztelés.
Ezen kívül van egy differenciális interferencia DIC mikroszkóp, amely párosul egy professzionális sík mezős akromatikus nagy munkatávolságú objektívvel, DIC technológiát használva, és egy célzott koaxiális fényforrással. A teljes látómező egységes interferenciaszínekkel, tiszta képekkel és nagy kontraszttal rendelkezik. A kis magasságkülönbség a vizsgált tárgy felületén jelentős domborműhatást kelt, amely egyértelműen azonosítja a repedéseket, kiemelkedéseket, részecskéket és lyukakat.
A modern ipari tesztelés egyik fontos berendezéseként az ipari ellenőrző mikroszkópok sokféle típussal és alkalmazási lehetőséggel rendelkeznek. A tényleges vásárlási és felhasználási folyamat során szükséges a megfelelő berendezéstípusok és nagyítások kiválasztása az egyedi igények és mintajellemzők alapján a magas szintű észlelési és megfigyelési hatások elérése érdekében.
