Az atomerő-mikroszkóp és az optikai mikroszkóp és az elektronmikroszkóp közötti különbség
A fő különbség az AFM és a versengő technológiák, például az optikai és elektronmikroszkóp között, hogy az AFM nem használ lencséket vagy fénysugarat. Így nem korlátozza a diffrakció és aberrációk miatti térbeli felbontást, és nem igényel teret a nyaláb irányításához (vákuum létrehozásával) és a minta megfestéséhez.
A pásztázó mikroszkópok többféle típusa létezik, beleértve a pásztázó szonda mikroszkópiát (beleértve az AFM-et, a pásztázó alagútmikroszkópiát (STM) és a közeli pásztázó optikai mikroszkópiát (SNOM/NSOM), a STED-mikroszkópiát (STED), valamint a pásztázó elektronmikroszkópiát és az elektrokémiai atommikroszkópiát erőmikroszkópos EC -AFM). Bár a SNOM és a STED a mintákat látható, infravörös, sőt terahertzes fénnyel is megvilágítja, felbontásukat nem korlátozza a diffrakciós határ.
