Rendszer DC teljesítmény kimeneti válasz sebesség
Számos eszköz több különböző DC -torzítási feszültséget használ a teszteléshez, hogy biztosítsa a megfelelő teljesítményt a megadott működési tartományon belül. A többszörös torzítás feszültségének megváltoztatása további néhány másodpercet igényelhet, ami a tesztelési idő jelentős részét teszi ki.
Amikor az áramellátás kimeneti feszültségértékét új értékre változtatja, több lépés történik, az 1. ábrán látható módon. Ezek a lépések mind határidőt igényelnek.
Amint az áramellátás megkapja a parancsot, fel kell dolgoznia, azaz a parancsfeldolgozási időt. Ezután a teljesítmény kimenet reagál, és új beállítássá válik. A * végső értékének eléréséhez szükséges idő egy bizonyos beállított frekvenciasávon belül a kimeneti válaszidő.
A DC energiaforrások közötti különbségek a különböző rendszerekben nagyon szignifikánsak lehetnek. Az 1. táblázat összehasonlítja a hagyományos rendszer DC tápegységének reprezentatív parancsfeldolgozási és kimeneti válaszidejét az átmeneti optimalizált DC tápegységek idejével (ebben az esetben az Agilent N6750A sorozat DC tápegység modulja). Az N6700 moduláris energiarendszer sorozatához tartozik. A gyors kimeneti válasz több száz milliszekundummal csökkentheti az új feszültségbeállításokhoz szükséges időt
A mérési sebesség hatása a teszt teljesítményére
Hasonlítsa össze a hagyományos rendszer DC tápegységének reprezentatív mérési parancsfeldolgozási és beszerzési idejét az áteresztőképesség optimalizált DC tápegységének (ebben az esetben az Agilent N6760A sorozat DC tápegység modulja).
A hagyományos rendszer DC tápegységétől az áteresztőképesség mérésére optimalizált DC tápegységre történő váltás a mérési időt körülbelül 1 0 0 milliszekundumra csak néhány milliszekundumra csökkentheti. Az ECU és más berendezések teszteléséhez általában többszörös energiafogyasztási méréseket végeznek. Könnyen megtakaríthatja a 0 -t. 5-1 Az idő másodpercét, és jelentős előnyt szerezhet az átviteli sebesség tesztelésében. A félvezető berendezések tesztelési követelményei sokkal magasabbak. Csak néhány másodperces tesztelési időtartamban kevés a margó a 100 milliszekundum mérési időre.
