A konfokális optikai mikroszkópia számos jellemzője
Nagy kontraszt, nagy felbontás
Hagyományos optikai mikroszkópban az interferenciát az életlen részről visszavert fény okozza, amely átfedésben van a fókuszpont képalkotó részével, ami a kép kontrasztjának csökkenését eredményezi. Ezzel szemben a konfokális optikai rendszerben a fókuszponton kívüli és az objektívlencsén belüli szórt fény szinte teljesen kiküszöbölhető, ami nagyon nagy kontrasztú képeket eredményez. Emellett a mikroszkóp felbontóképessége is javul, mert a fény kétszer halad át az objektívlencsén, így élesebbé válik a pontkép.
Optikai lokalizációs funkció
A konfokális optikai rendszerben a visszavert fényt a fókuszponttól eltérő ponton lévő mikro-apertúra árnyékolja. Ezért a háromdimenziós minta megfigyelésekor a kép úgy jön létre, mintha a mintát a fókuszponttal felvágták volna, és ezt a hatást optikai lokalizációnak nevezzük, ami a konfokális optikai rendszer egyik jellemzője.
Fókuszeltolás memória funkció
A fókuszponton kívüli visszaverődő fényt a mikrovia blokkolja, így a konfokális optikai rendszer által létrehozott kép minden pontja egybeesik a fókuszponttal. A sztereó mintát a Z tengely (optikai tengely) irányába mozgatva és a képeket a memóriában felhalmozva olyan képet kapunk, amelyen a minta minden pontja egybeesik a fókuszponttal. A fókuszmélység ily módon végtelen elmélyítésének funkcióját mozgó memória függvénynek nevezzük.
Felületforma mérési funkció
Egy felületmagasság-rögzítő áramkör hozzáadásával a fókuszeltolási funkcióhoz a minta felületi alakja érintésmentesen mérhető. Ezzel a funkcióval lehetőség van az egyes pixelek maximális fénysűrűségi értékének Z-tengely koordinátáinak rögzítésére, és ezen információk alapján a minta felületi alakjáról információt szerezni.
Nagy pontosságú mikrodimenziós mérési funkció
A fényvevő egységben 1D CCD képérzékelőt használnak, amely nagy pontosságú mérést tesz lehetővé anélkül, hogy a szkenner szkenner dőlésszöge befolyásolná. Ezen túlmenően a fókuszeltolódás memória funkciója állítható fókuszmélységgel (mélyítéssel) lehetővé teszi a fókuszeltolódás okozta mérési hibák kiküszöbölését.
