Ortosztatikus mikroszkóp vagy inverz mikroszkóp vásárlása
A metallográfiai mikroszkóp, más néven anyagmikroszkóp, elsősorban a fémszövet szerkezetének megfigyelésére szolgál, amely ortogonális metallográfiai mikroszkópra és fordított metallográfiai mikroszkópra osztható.
Ortogonális metallográfiai mikroszkóp a képalkotás megfigyelésében a pozitív képhez, amely nagy kényelmet biztosít a felhasználó megfigyelésében és azonosításában, amellett, hogy a fém minták 20-30 mm-es magassága az elemzéshez és azonosításhoz, mivel az emberi napi szokások, ezért szélesebb körben használják átlátszó, áttetsző vagy átlátszatlan anyagokban. 3 mikronnál nagyobb, 20 mikronnál kisebb a cél megfigyeléséhez, például fémkerámiák, elektronikus chipek, nyomtatott áramkörök, LCD szubsztrátok, filmek, szálak, szemcsés tárgyak, bevonat és egyéb anyagok felületi szerkezete, nyomai jó képalkotó hatással bírhatnak. Ezenkívül a külső kamerarendszer kényelmesen csatlakoztatható a videó képernyőhöz és a számítógéphez valós idejű és statikus és dinamikus képmegfigyeléshez, megőrzéshez és szerkesztéshez, a nyomtatás különféle szoftverekkel kombinálva professzionálisabb lehet metallográfiai, mérési, interaktív oktatási terület igények. Az optikai síkképalkotási módszert alkalmazó fordított metallográfiai mikroszkóp, a különféle fémek és ötvözetek azonosítása és elemzése, fontos eszköze a fémfizika metallográfiai kutatásának, széles körben alkalmazható gyárakban vagy laboratóriumokban az öntvények minőségének, nyersanyag-ellenőrzésének, vagy a kutatási és elemző munka anyagkohászati megszervezésének folyamatkezelése a bányászat, kohászat, feldolgozóipar, gépipar eredményeinek intuitív elemzése érdekében a bányászatban, a kohászatban, a feldolgozóiparban, az öntésben a gépiparban, olvasztási, hőkezelési minőségi azonosítás és kulcsfontosságú berendezések elemzése.
Az elmúlt években a mikroelektronikai iparnak nagy nagyítású síkmikroszkóp technológiára van szüksége a chipgyártás támogatásához, ezért a kohászati mikroszkóp bevezetésre került a szakterületen a használat elősegítése érdekében, és folyamatosan fejlődik, hogy megfeleljen az ipar speciális igényeinek. Fordított metallográfiai mikroszkóp, a minta megfigyelésének köszönhetően az asztal felületével lefelé, a megfigyelő objektív lencséje az asztal alatt található, felfelé irányuló megfigyelés, erre a megfigyelési formára nem vonatkoznak a próbatest magassági korlátai, könnyen használható, a műszer kompakt felépítésű, szép és nagyvonalú megjelenésű, fordított metallográfiai mikroszkóp alapfelülete nagyobb, súlypontja alacsonyabb, ** sima és megbízható, szemlencsék és tartófelülete 45 fokos dőlésszögű, megfigyelési ill. kényelem.
