Optikai mikroszkóp (OM) elemzés
Az optikai mikroszkóp képalkotó elve a látható fény felhasználása a minta felületének besugárzására, ami a helyi szórást vagy a reflexiót különböző kontrasztot képezi. Mivel azonban a látható fény hullámhossza olyan magas, mint a {{0}} angstroms, ez természetesen a legrosszabb a felbontás szempontjából (vagy megkülönböztetés, felbontás, a két pont közötti legközelebbi távolságra utalva). Normál működés közben, csak a 0. 2 mm vizuális megkülönböztetési sebesség miatt, ha az optikai mikroszkóp optimális felbontása csak 0,2 um, az elméleti maximális nagyítás csak 1000 x, ami korlátozott. A látómező azonban valójában a legnagyobb a különféle képalkotó rendszerek között, jelezve, hogy az optikai mikroszkóp megfigyelése továbbra is számos előzetes szerkezeti adatot szolgáltathat.
Géptípus
Elemzési alkalmazás
Az optikai mikroszkópok nagyítását és felbontását, bár nem képes kielégíteni a sok anyagi felületi megfigyelés igényeit, továbbra is széles körben alkalmazzák a különféle alkalmazásokban, például:
Az alkatrészek keresztmetszeti szerkezetének megfigyelése;
A sík késleltető szerkezetének elemzése és megfigyelése;
A csapadékmentes zóna megfigyelése a csapadékhoz;
A differenciálvezetékek és a maratott horpadások megfigyelése;
Az oxidáció fokozott halmozási hibáinak (OSF) kutatása.
