Bevezetés az illuminométer vizsgálati alapelveibe és módszereibe
1. A megvilágítás vizsgálati elve
A megvilágítás a megvilágított síkon kapott fényáram felületi sűrűsége. Az illuminométer egy olyan műszer, amelyet a megvilágított felület megvilágításának mérésére használnak, és ez az egyik leggyakrabban használt műszer a megvilágítás mérésében.
2. Az illuminométer szerkezeti elve
Az illuminométer egy fotométerfejből (más néven fényfogadó szondából, beleértve a V（ λ vevőt is) áll. Két részből áll: egy szűrőből, egy koszinusz korrektorból és egy leolvasó kijelzőből.
Mérési lépések és módszerek
Munkahelyiségben a megvilágítást minden munkahelyen (például asztalon vagy munkapadon) meg kell mérni, majd átlagolni kell. Üres vagy nem dolgozó helyiségekben, ahol nincs kijelölt munkahely, ha általános világítást egyedül használnak, általában egy 0,8 m magas vízszintes síkot választanak a megvilágítás mérésére. Osszuk fel a mérési területet egyenlő méretű (vagy négyzetközeli) négyzetekre, mérjük meg az Ei megvilágítást az egyes négyzetek közepén, és az átlagos megvilágítás egyenlő az egyes pontok átlagos megvilágításával, pl.
A képletben Eav - a mérési terület átlagos megvilágítása, lx;
Ei - megvilágítás az egyes mérési rácsok közepén, lx;
N - Mérési pontok száma.
A megvilágítás egyenletessége a kis megvilágítás és az átlagos megvilágítás arányára vonatkozik egy meghatározott felületen, nevezetesen:
A képletben az Emin - a mért felület kis megvilágítására vonatkozik, lx.
Ebben a kísérletben a helyiségben elhelyezett mérési pontfelületet lehet felületnek, a kis megvilágítási értéket pedig a mérési pontokban lévő kis megvilágítási értéknek tekinteni.
Mérje meg a helyiségben lévő minden négyzet oldalhosszát lm-re, és a nagy szobák is megtehetik
A képletben Eav - a mérési terület átlagos megvilágítása, lx;
Ei - megvilágítás az egyes mérési rácsok közepén, lx;
N - Mérési pontok száma.
A megvilágítás egyenletessége a kis megvilágítás és az átlagos megvilágítás arányára vonatkozik egy meghatározott felületen, nevezetesen:
A képletben az Emin - a mért felület kis megvilágítására vonatkozik, lx.
Ebben a kísérletben a helyiségben elhelyezett mérési pontfelületet lehet felületnek, a kis megvilágítási értéket pedig a mérési pontokban lévő kis megvilágítási értéknek tekinteni.
Mérje meg a helyiség minden négyzetének oldalhosszát lm-ben, nagy helyiségeknél pedig 2-4 m-nek vehető. Rendezzük el a mérési pontokat a hosszirány középvonala mentén szűk forgalmi területeken, például folyosókon és lépcsőkön, 1-2 méteres távolsággal; A mérési sík a talajszint vagy a talajszint felett 150 mm-rel lévő vízszintes sík.
Minél több mérési pont van, annál pontosabb a kapott átlagos megvilágítási érték, de ez több időt és erőfeszítést igényel. Ha az Eav megengedett mérési hibája ± 10 százalék, akkor a munkaterhelés csökkentése érdekében a minimális mérési pontok kamraindex alapján történő kiválasztásának módszere használható. A kettő kapcsolatát az 1. táblázat tartalmazza. Ha a lámpák száma pontosan megegyezik a táblázatban megadott mérési pontok számával, akkor további mérési pontokat kell hozzáadni.
