Különbségek az ortogonális és fordított kohászati mikroszkópok alkalmazásában
Az előre és fordított minta között egyszerűen annyi a különbség, hogy az elülső mintát alul, a fordított mintát pedig felül. Az objektív lencsét előrefelé lefelé, fordított helyzetben pedig felfelé helyezzük.
Fordított metallográfiai mikroszkóp, a minta megfigyelése miatt az asztal felületével lefelé, a megfigyelési objektív az asztal alatt található, felfelé irányuló megfigyelés, erre a megfigyelési formára nem vonatkoznak a próbatest magassági korlátai, amíg mint a minták előkészítése, mindaddig, amíg a megfigyelési felület lapos, így a gyári laboratóriumok, tudományos kutatóintézetek és főiskolák és egyetemek tanítása a közös választás. A fordított metallográfiai mikroszkóp alapfelülete nagyobb, a súlypont alacsonyabb, stabil és megbízható, az okulárok és a tartófelület 45 fokban döntve, kényelmes megfigyelés.
Az ortogonális metallográfiai mikroszkóp alapvető funkciói megegyeznek az invertált metallográfiai mikroszkópéval, amellett, hogy az elemzéshez és azonosításhoz szükséges 20-30 mm-es fém minták magassága, mert összhangban az emberek mindennapi szokásaival, így szélesebb körben használják átlátszó , félig átlátszó vagy átlátszatlan anyagok. Az ortogonális metallográfiai mikroszkóp pozitív képet ad megfigyeléskor, ami nagy kényelmet biztosít a felhasználó megfigyelésében és azonosításában. A 20-30 mm magasságú fémminták elemzésén és azonosításán túlmenően 3 mikronnál nagyobb és 20 mikronnál kisebb céltárgyak megfigyelésére is használható, mint például a fém felületén lévő szerkezet és nyomok. kerámiák, elektronikus chipek, nyomtatott áramkörök, LCD-hordozók, vékony filmek, szálak, szemcsés tárgyak, bevonatok és egyéb anyagok, kiváló képalkotási eredménnyel.
