Metallurgiai mikroszkóp speciális objektívlencséinek osztályozása
1, korrekciós gyűrűs objektívvel (Correctioncollarobjective): az objektívlencse közepén gyűrűre szerelt beállítógyűrűvel van felszerelve, az állítógyűrű elforgatásakor az objektívlencsén belül állítható az objektívcsoport közötti távolság, így a fedőlemez vastagságával korrigálni nem szabványos fedést okoz az eltérés. A skála beállító gyűrűje a következőtől lehet: 0.11-.023, az objektív lencsehéjában szintén ez a szám van jelölve, jelezve, hogy a fedőüveg 0-tól korrigálható.{101} {5}},23 mm vastagság a hiba között.
2, irizáló membrános objektívvel (Irisdiaphragmobjective): az objektívlencse hengerének irizáló membránnal felszerelt felső részében, a külső oldal is elforgatható a gyűrű beállításához, forgatással a membrán rekesznyílás mérete állítható, ez a szerkezet az objektív egy olajba merített objektív, szerepe a sötét látómező érzékelése, ha a látómező háttere nem elég sötét, ami a mikroszkópos minőség romlását eredményezi. Ekkor állítsa be a membrán méretét úgy, hogy a háttér sötétebb legyen, hogy a vizsgálandó tárgy világosabb legyen, a mikroszkópos hatás fokozása érdekében.
3, fáziskontraszt objektív (Phasecontrastobjective): ez az objektív fáziskontraszt mikroszkópos speciális objektív, amelyet az objektív fókuszsíkja jellemez, fázislemezzel van ellátva.
4, nincs fedőobjektív (Nocoverobjective): a vizsgált objektumok egy része, a tetejét nem lehet fedőlemezzel kiegészíteni, így a mikroszkópos vizsgálatnál fedőobjektív nélkül kell használni, ellenkező esetben jelentősen romlik a képminőség, különösen a nagy nagyítású mikroszkópban nyilvánvalóbb. Ezt az objektívlencsét gyakran az NC héjra gravírozzák, egyúttal a fedőlemez vastagságának pozíciójában a 0.17 szó nélkül, de "0" gravírozással.
5, nagy munkatávolságú objektív: ennek az objektívnek a fókusztávolsága nagyobb, mint a szokásos objektív, úgy tervezték, hogy megfeleljen a folyékony anyagoknak (magas hőmérsékletű metallográfia), a folyadékkristálynak, a szövettenyészetnek, a szuszpenziónak és más, mikroszkópiára tervezett anyagoknak.
