Metallográfiai mikroszkópok alkalmazása a különböző iparágakban
Először a metallográfiából származtatták. Fő célja egy professzionális műszer metallográfiai szerkezetének megfigyelése. Ez egy speciálisan átlátszatlan tárgyak, például fémek és ásványok metallográfiai szerkezetének megfigyelésére használt mikroszkóp. Ezeket az átlátszatlan tárgyakat közönséges áteresztőfény-mikroszkóppal nem lehet megfigyelni, így a metallográfia és a közönséges mikroszkóp közötti fő különbség az, hogy az előbbi visszavert, míg az utóbbi áteresztett fényt használ a megvilágításhoz.
A metallográfiai mikroszkóp jellemzői: jó stabilitás, tiszta képalkotás, nagy felbontású, nagy és lapos látómező. Nemcsak mikroszkópos megfigyeléseket végezhet az okuláron, hanem valós idejű dinamikus képeket is megfigyelhet a számítógép (digitális fényképezőgép) kijelzőjén, valamint szerkesztheti, mentheti és kinyomtathatja a szükséges képeket. Főleg hardver-, szeletelő- és IC-komponensekben használják. , LCD/LED és egyéb mezők.
Mert a metallográfiai mikroszkópokhoz ötféle lencse létezik: EPI fényerejű fluoreszcencia; BD fényes mező; SLWD ultra-hosszú munkatáv; ELWD megnövelt munkatávolság; és a korrekciós gyűrűsek. A hardveriparban vannak olyan hardveralkatrészek, amelyek komolyan tükrözik, így a megfigyeléshez választhatunk BD világos és sötét mezős objektívet. Egy másik példa, az LCD-iparban vezetőképes részecskék megfigyelésekor és mérésekor a metallográfiai mikroszkóp DIC-vel is felszerelhető, amely háromdimenziósabbá teheti az objektumot. Mivel polarizált, két színszűrőből álló készlet polarizált mikroszkópos megfigyelési technológiát alkot. A kettős törés teljesítményének megfelelően a fényút iránya irányváltoztatásra kerül. Természetesen a polarizált fény csak DIC-vel használható, és ez önmagában értelmetlen. A kohászati mikroszkópokat apró méretek, például IC alkatrészek és metallográfiai metszetek mérésére és elemzésére használják. A méréshez az Iview-DIMS intelligens szoftvert használhatja, amely rendkívül pontos és hatékonyan csökkenti az emberi mérési hibákat. Könnyen megtanulható és használható, könnyen mérhet és elemezhet pontokat, vonalakat, íveket, félmeridiánokat, közvetlen meridiánokat, szögeket és egyéb kapcsolódó dimenziókat, egyszerűen készíthet mérési képeket és testreszabhatja a különböző tesztjelentéseket.
