Metallográfiai mikroszkóp alkalmazása különböző iparágakban
A metallográfiai mikroszkóp először a metallográfiából származott, és fő célja a metallográfiai szerkezet professzionális műszerének megfigyelése. Ez egy mikroszkóp, amelyet kifejezetten átlátszatlan tárgyak, például fémek és ásványok metallográfiai szerkezetének megfigyelésére használnak. Ezeket az átlátszatlan tárgyakat közönséges transzmissziós fénymikroszkóppal nem lehet megfigyelni, így a metallográfia és a közönséges mikroszkóp közötti fő különbség az, hogy az előbbit visszavert, míg az utóbbit áteresztett fény világítja meg.
A metallográfiai mikroszkópia jellemzői: jó stabilitás, tiszta képalkotás, nagy felbontás, valamint nagy és lapos látómező. Nemcsak mikroszkópos megfigyelést tud végezni az okuláron, hanem valós idejű dinamikus képeket is megfigyelhet a számítógép (digitális kamera) kijelzőjén, illetve képes szerkeszteni, elmenteni és kinyomtatni a szükséges képeket. Főleg olyan területeken használják, mint a hardver, a szeletelés, az IC alkatrészek, az LCD / LED stb.
Mert ötféle lencse létezik metallográfiai mikroszkópokhoz: EPI fényes mező fluoreszcencia; BD világos és sötét mezők; SLWD ultra hosszú munkatáv; Az ELWD növeli a munkatávolságot; Korrekciós gyűrűvel. A hardveriparban néhány erős visszaverődésű hardverelem megfigyelhető BD világos és sötét mezős objektívek használatával. Például az LCD-iparban vezetőképes részecskék megfigyelésekor és mérésekor a metallográfiai mikroszkóp DIC-vel is felszerelhető, hogy az objektum háromdimenziósabb legyen. Mivel polarizált fénnyel van felszerelve, két színszűrőkészlet alkotja a polarizált fény mikroszkópos megfigyelési technikáját, amely a kettős törés teljesítménye alapján megváltoztatja az optikai út irányát. Természetesen a polarizált fény csak a DIC-vel együtt használható, és önmagában nincs jelentősége. A metallográfiai mikroszkópiát kis méretek, például IC alkatrészek és metallográfiai metszetek mérésére és elemzésére használják. Az Iview-DIMS intelligens szoftver használható mérésre, nagy pontossággal és hatékonyan csökkenti az emberi mérési hibákat. Könnyen megtanulható és használható, könnyen mérhet és elemezhet releváns méreteket, például pontokat, vonalakat, íveket, félmeridiánokat, egyenes meridiánokat, szögeket stb. Könnyen készíthet mérési képeket és testreszabhatja a különböző tesztjelentéseket.
